納米x射線顯微鏡是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2015年9月21日啟用。
基本介紹
- 中文名:納米x射線顯微鏡
- 產地:美國
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2015年9月21日
納米x射線顯微鏡是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2015年9月21日啟用。
在上述透射X 射線顯微鏡中,整個被研究物需完全暴露在入射光束中,探測器顯示的是放大、完整的物像。在掃描式X 射線顯微鏡中入射光束一般被聚焦得很細小,如幾十個納米,故物體上只有一個很小的區域被光照射,探測器上只得到這一個點...
三維X射線顯微鏡是一種用於信息科學與系統科學領域的分析儀器,於2016年12月8日啟用。技術指標 極限解析度0.9微米,最小體素尺寸70納米; X射線源:30-160kv透射閉管X射線源; 探測器:閃爍體+光學鏡頭+CCD,像素數量:2048×2048; ...
在三維結構納米成像中,重點介紹了電子顯微鏡和X射線顯微鏡,對三維結構納米成像進行了較為系統的分析。在形貌納米成像方面,論及掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡、近場光學顯微鏡和掃描電子顯微鏡等。在螢光納米成像中,重點討論了突破衍射極限的...
衍射顯微鏡 衍射顯微鏡(diffraction microscope)是2019年發布的物理學名詞。公布時間 2019年經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《物理學名詞》第三版。
由於所有的原子都含有電子,並且X射線的波長範圍為0.001-10納米(即0.01-100埃),其波長與成鍵原子之間的距離(1-2埃附近)可比,因此X射線可用於研究各類分子的結構。但是,到目前為止還不能用X射線對單個的分子成像,因為沒有...
傅立葉變換紅外顯微鏡傅立葉變換紅外顯微鏡 傅立葉變換紅外顯微鏡傅立葉變換紅外顯微鏡是一種用於化學、化學工程、土木建築工程領域的分析儀器,於2011年9月28日啟用。技術指標 750-4000CM-1。主要功能 樣品雜質成分的紅外分析。
第二章 放大,再放大些:觀測納米世界的工具 第一節 電子顯微鏡技術 第二節 掃描隧道顯微鏡技術 第三節 原子力顯微鏡技術 第四節 近場光學顯微鏡技術 第五節 x射線衍射技術 第六節 拉曼光譜法 第三章...
Cytoviva高光譜納米螢光顯微鏡是一款具有高信噪比和高光譜解析度成像的顯微系統,可以用來觀測和定量分析各種生物、不同環境的納米尺度樣品,包括金屬納米顆粒、藥物輸送、碳納米管、病原體檢測、金屬氧化物等等。Cytoviva高光譜納米螢光顯微鏡主要...
0304070201 /儀器儀表 /光學儀器 /電子光學及離子光學儀器 /掃描式電子顯微鏡。指標信息 二次電子圖像(SEI) 解析度1.5nm 背散射電子圖像(BEI) 解析度3.0nm X射線能譜儀(EDS) 解析度128ev 分析範圍B5~U92 電子背散射衍射(EBSP...
掃描式電子顯微鏡不需要很薄的樣品;圖像有很強的立體感;能利用電子束與物質相互作用而產生的次級電子、吸收電子和X射線等信息分析物質成分。掃描電子顯微鏡的製造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的入射電子轟擊物質表面時,被激發...
新納米材料的發現需要通過先進的分析技術和技能來獲取高質量的圖片,從而幫助我們理解納米結構,以達到改進合成方法和提高性能的目的。例如場發射槍、背散射電子的探測、X射線元素的圖像化等,已經很大程度地提高了掃描電子顯微鏡在納米材料...
選擇多種不同彈模的彈性基底,在各基底上面分別沉積幾十納米至幾微米尺度不等的金屬薄膜。利用X射線定量測定薄膜內部的殘餘應力分布。對薄膜/基底二元組件施加拉伸載荷,藉助於AFM和高倍光學顯微鏡,利用三維特徵提取及應變測試分析技術,對...
本項目以納米晶Ni、Ni-P和納米結構Ni、Al合金、Al、Cu等研究對象,以透射電子顯微鏡三維取向重構技術、高分辨的同步輻射三維X射線顯微鏡技術、三維原子探針以及高分辨透射電子顯微鏡及原位技術、高分辨電子背散射衍射技術等為主要研究手段,...
裝上波長色散X射線譜儀(WDX) 或能量色散X射線譜儀 (EDX) , 使具有電子探針的功能, 也能檢測樣品發出的反射電子、X射線、陰極螢光、透射電子、俄歇電子等。把掃描電鏡擴大套用到各種顯微的和微區的分析方式, 顯示出了掃描電鏡的多...