物理性質測量系統

物理性質測量系統是一種用於物理學、化學、材料科學領域的計量儀器，於2004年1月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：物理性質測量系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、化學、材料科學
• 啟用日期：2004年1月1日
• 所屬類別：計量儀器 > 電磁學計量儀器

技術指標

1. 直流磁化率靈敏度5×10-5emu。2. 交流磁化率靈敏度2×10-8 emu，交流磁場幅度2 mOe~15 Oe，交流頻率範圍10 Hz~10 KHz。3. 直流阻抗測量系統：電流5nA~5mA，靈敏度20nV。4. 交流傳輸效應測量系統可以測量交流阻抗、比熱和熱導。5. 溫度變化範圍：1.9 K~400 K。6.扭矩磁化率測量。

主要功能

1. 直流磁化率靈敏度5×10-5 emu。2. 交流磁化率靈敏度2×10-8 emu，交流磁場幅度2 mOe~15 Oe，交流頻率範圍10 Hz~10 KHz。