磁學性質測量系統是一種用於化學領域的物理性能測試儀器,於2004年9月17日啟用。
基本介紹
- 中文名:磁學性質測量系統
- 產地:美國
- 學科領域:化學
- 啟用日期:2004年9月17日
- 所屬類別:物理性能測試儀器
磁學性質測量系統是一種用於化學領域的物理性能測試儀器,於2004年9月17日啟用。
磁學性質測量系統 磁學性質測量系統是一種用於化學領域的物理性能測試儀器,於2004年9月17日啟用。技術指標 2K~400K,+-7特斯拉。主要功能 磁性測量。
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磁學測量系統 磁學測量系統是一種用於材料科學領域的儀器,於2015年12月22日啟用。技術指標 *70k0e。主要功能 磁學測量系統。
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高壓原位低溫磁學測量系統 高壓原位低溫磁學測量系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2017年11月3日啟用。技術指標 磁場:9T,溫度4K,4英寸室溫孔。主要功能 高壓原位電學、磁學性質測量。
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除了常規的樣品處理和性質測試外,實驗室還擁有用於結構測量的X-射線衍射儀;用於巨觀磁性測量的振動樣品磁強計和基於SQUID的磁性測試系統;用於微觀磁性測量的穆斯堡爾譜儀和核磁共振波譜儀;用於磁化率和磁導率測量的阻抗分析儀實驗室自2002...
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