物理特性測試系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2004年11月01日啟用。
基本介紹
- 中文名：物理特性測試系統
- 產地：美國
- 學科領域：物理學、材料科學
- 啟用日期：2004年11月01日
- 所屬類別：物理性能測試儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
測斷嫌民量溫度範圍：2K-400K；磁場範圍-9T-+9T。
主要功能
測量各種材料在極端條件下擔設的物理輸運性質企囑組.提供低放艱甩溫（50mK）強磁場（+-9T）主坑刪測量環境，集成全自動的磁學，電學，熱學匙灑蒸連，姜市盛提形貌，鐵電和介電等各種物性測量手段。測量項目有Resistivity，AC Transport，Heat Capacity，Low Field，ACMS，VSM，SPM。
