原位單傾電學性能測量系統

原位單傾電學性能測量系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2013年7月19日啟用。

基本介紹

• 中文名：原位單傾電學性能測量系統
• 產地：瑞典
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2013年7月19日
• 所屬類別：物理性能測試儀器

技術指標

探針掃描範圍：1 mm; 掃描步長：1 nm。

主要功能

用於測量電導、場電子發射性質。