基於電子顯微鏡的一維納米材料力電學的原位測量系統

基於電子顯微鏡的一維納米材料力電學的原位測量系統

《基於電子顯微鏡的一維納米材料力電學的原位測量系統》是依託電子科技大學,由彭倍擔任醒目負責人的青年科學基金項目。

基本介紹

  • 中文名:基於電子顯微鏡的一維納米材料力電學的原位測量系統
  • 依託單位:電子科技大學
  • 項目類別:青年科學基金項目
  • 項目負責人:彭倍
  • 批准號:50801009
  • 申請代碼:E0106
  • 負責人職稱:教授
  • 研究期限:2009-01-01 至 2011-12-31
  • 支持經費:20(萬元)
項目摘要
近年來,隨著大量創新納米材料的不斷被發現,它們的力、電學等性質也引起科學家們廣泛的關注。然而,由於納米材料本身結構微小,使得精確測量非常困難。這個項目的主旨是發明一套可以廣泛推廣套用的、能夠達到納米測量精度的、可原位觀測晶格和位錯等微觀結構的實驗測量系統。其研究對象是以碳納米管,金屬和半導體納米線為主體的一維納米結構。為了實現以上要求,我們擬設計基於微/納機電系統(MEMS/NEMS)的微觀力、電學測量平台。此平台由一個微型熱學執行器和一個基於電容的力感測器構成,用表面微型製造技術製造。得益於MEMS和納米材料在尺寸上的近似,我們可以得到納牛級別力的輸出,和納米精度的位移測量。整個MEMS測量系統運行於高精密電子顯微鏡(SEM或者TEM)中,可實現原子級別的原位觀測,對研究納米材料微觀結構和力、電學性質的關係有重大意義。

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