磁性質測量系統

磁性質測量系統是一種用於物理學、化學、材料科學領域的計量儀器，於2004年01月01日啟用。

基本介紹

• 中文名：磁性質測量系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、化學、材料科學
• 啟用日期：2004年01月01日
• 所屬類別：計量儀器 > 電磁學計量儀器

技術指標

工作溫度範圍：1.9-400 K；磁場變化範圍：±5 T；DC/AC靈敏度10^(-8) emu。備有單晶樣品桿、光照樣品桿和超低場附屬檔案。用於小樣品、弱信號的測量，2-300 K各種磁性材料的單晶、多晶等樣品的表征。

主要功能

測量物質的基本磁性質。主要包括：1. 恆定外場下的變溫磁矩的測量；2. 恆定溫度下變場磁矩的測量；3. 選定頻率下的交流磁矩的測量；4.恆定溫度，不同頻率下的交流磁矩；5.光照條件下的上述各種測量；6.單晶樣品的上述各種測量。