多功能物理性質測量系統

多功能物理性質測量系統

多功能物理性質測量系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2012年01月01日啟用。

基本介紹

  • 中文名:多功能物理性質測量系統
  • 產地:美國
  • 學科領域:材料科學
  • 啟用日期:2012年01月01日
  • 所屬類別:物理性能測試儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

樣品腔尺寸:淨內徑不小於25 mm溫度範圍: 1.9 K - 400 K,(測量磁性可擴展到50mk~1000 K,在4.2K以下可維持長時間低溫測量(不小於20000小時))溫度掃描速度:最快達到12 K/min.控溫精度: ±1% 從零場到滿場 (最高9 Tesla)溫度穩定性: ±0.2% for 溫度 < 10 K (typ ) ±0.02% for 溫度> 10 K (typ.) 磁場環境: 0T-9T,正反向可變,可連續變化: 變場速率0.0。

主要功能

PPMS系統由一個基系統和各種拓展功能選件構成。基系統同時提供變磁場測量環境和變溫度場測量環境,以及各種全自動測量功能選件,包括:電學測量功能(含直流電阻率、交流電阻率、磁阻、霍耳效應、I-V曲線、臨)。

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