基本介紹
- 中文名:極紫外光刻膠
- 外文名:EUV Photo resist
目前狀態 | 14nm量產要求 | ||
極紫外光刻膠 | 解析度 | 26nm 1:1線條,DOF>250nm 28nm通孔,DOF>150nm | 28nm 1:1線條,DOF>150nm 30nm通孔,DOF>150nm |
敏感度 | 26nm 1:1線條,12mJ/cm2 | <20mJ/cm2 | |
邊緣粗糙度(LER 3) | 32nm 1:1線條,2.5nm 曝光能量15mJ/cm2 | 1.1nm |
目前狀態 | 14nm量產要求 | ||
極紫外光刻膠 | 解析度 | 26nm 1:1線條,DOF>250nm 28nm通孔,DOF>150nm | 28nm 1:1線條,DOF>150nm 30nm通孔,DOF>150nm |
敏感度 | 26nm 1:1線條,12mJ/cm2 | <20mJ/cm2 | |
邊緣粗糙度(LER 3) | 32nm 1:1線條,2.5nm 曝光能量15mJ/cm2 | 1.1nm |
極紫外光刻膠是指在極紫外光刻技術中所套用的光刻膠。...... 極紫外光刻膠是指在極紫外光刻技術中所套用的光刻膠。中文名 極紫外光刻膠 外文名 EUV Photo...
極紫外光刻(Extreme Ultraviolet Lithography),常稱作EUV光刻,它以波長為10-14納米的極紫外光作為光源的光刻技術。具體為採用波長為13.4nm 的紫外線。極紫外線就...
在極紫外光刻(EUVL)中,由於光子的量子效應,入射在光刻膠上的光子數是起伏不定的,根據泊松定律,光子數的起伏值為√N(N為EUV中入射光子的平均數),被稱為極...
▪ 邊緣光刻膠的去除 ▪ 對準 ▪ 曝光 ▪ 後烘 ▪ 顯影 ▪ 硬烘 2 準分子光刻技術 3 極紫外光刻技術 4 電子束光刻技術 光...
通過反射式掩模版反射出的極紫外光波再通過由多面反射鏡組成的縮小投影系統,將反射式掩模版上的積體電路幾何圖形投影成像到矽片表面的光刻膠中,形成積體電路製造所...
曝光光源波長分為紫外、深紫外和極紫外區域,光源有汞燈,準分子雷射器等。光刻機光刻機種類 編輯 a.接觸式曝光(Contact Printing):掩膜板直接與光刻膠層接觸。...
第9章晶圓返工與光刻膠的清除第10章雙重和多重光刻技術第11章極紫外(EUV)光刻技術中英文光刻術語對照彩圖 [1] 參考資料 1. 超大規模積體電路先進光刻理論與...
極紫外干涉儀是光源為極紫外光段波長的干涉儀。...... 原理是:兩個極紫外光束對稱的照在有周期圖形的掩模版上,衍射光相互干涉,在晶圓表面形成周期性條紋,對光刻...
極紫外光學鄰近效應修正是套用於極紫外光刻中的光學鄰近效應修正技術。...... 與深紫外(DUV)成像模型相比,極紫外(EUV)...光刻膠模型 與DUV光刻膠類似的模型 兼顧...
極紫外隨機效應是指積體電路光刻極紫外曝光工藝中光子散粒噪聲導致的能量起伏現象。...
極紫外成像模型應該包括掩模三維效應模型、曝光縫隙位置效應、像差、光刻膠模型、雜散光模型等。...
為了降低表面效應和二次電子對光刻膠性能的影響,一般在矽襯底表面先塗一層非光敏感的材料,稱為底層材料。...
邊緣粗糙度(Line Edge Roughness, LER)是指光刻膠圖形邊緣的粗糙程度。...... 2. 鹿國慶,吳義恆,李伶俐,盧啟鵬,套用於22nm及以下節點的極紫外光刻膠研究進展,...
4. 科技部02專項極紫外光刻膠課題(分課題負責人,2011-2013) [1] 參考資料 1. 曾毅 .中國科學院理化技術研究所[引用日期2014-05-05] ...