兩架或兩架以上的望遠鏡同時接收同一天體的光線，通過干涉進行天體測量和天體物·
中文名稱：光干涉測量；
英文名稱：opticalinterferometry；
兩架或兩架以上的望遠鏡同時接收同一天體的光線，通過干涉進行天體測量和天體物·
干涉測量術(英語:Interferometry)是通過由波的疊加(通常為電磁波)引起的干涉現象來獲取信息的技術。這項技術對於天文學、測速以及驗光等領域的研究都非常重要。...
干涉測量法(Interferometry):用多架望遠鏡把來自同一天體的光或無線電波進行組合,以增加分解。常見的有光學干涉測量、長度測量、干涉光譜、射電干涉測量。...
兩架或兩架以上的望遠鏡同時接收同一天體的光線,通過干涉進行天體測量和天體物·... 兩架或兩架以上的望遠鏡同時接收同一天體的光線,通過干涉進行天體測量和天體物· ...
物理學中,干涉(interference)是兩列或兩列以上的波在空間中重疊時發生疊加從而形成新的波形的現象。例如採用分束器將一束單色光束分成兩束後,再讓它們在空間中的...
光學干涉測量,是天文學專有名詞。來自中國天文學名詞審定委員會審定發布的天文學專有名詞中文譯名,詞條譯名和中英文解釋數據著作權由天文學名詞委所有。...
雷射干涉儀,以雷射波長為已知長度,利用邁克耳遜干涉系統測量位移的通用長度測量。... 雷射干涉儀,以雷射波長為已知長度,利用邁克耳遜干涉系統測量位移的通用長度測量。
干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射後形成的干涉條紋進行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學元件形成參考光路和檢測光路。...
中文名稱 雷射干涉測量 英文名稱 laser interferometry 定義 以雷射為光源,以雷射波長或雷射頻率為基準,利用光的干涉原理進行精密測量的方法。 套用學科 機械工程(...
除此之外,由於雷射干涉儀能夠非常精確地測量干涉中的光程差,在當今的引力波探測中麥可遜干涉儀以及其他種類的干涉儀都得到了相當廣泛的套用。雷射干涉引力波天文台...
雙光束干涉儀是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。通過調整該干涉儀,可以產生等厚干涉條紋,也可以產生等傾干涉條紋。主要用於長度和折射率的測量,若觀察到干涉條紋...
干涉儀是很廣泛的一類實驗技術的總稱, 其思想在於利用波的疊加性來獲取波的相位信息, 從而獲得實驗所關心的物理量。干涉儀並不僅僅局限於光干涉儀。 干涉儀在天文...
1.5光學測量中常用調製方法與技術1.5.1概述1.5.2機械調製法1.5.3利用物理光學原理實現的光調製技術本章參考文獻第2章光干涉技術2.1光干涉的基礎知識...
5.2.5光在特異材料中的傳輸114 參考文獻116 第6章干涉測量119 6.1引言119 6.2干涉波119 6.3早期的干涉實例122 6.3.1楊氏狹縫122 6.3.2菲涅耳雙稜鏡122 6.3...
一是單曝光法或實時法,它利用單次曝光形成的全息圖的再現象與測量時的物光之間的干涉進行檢測;二是雙曝光法,它利用兩次不同時刻的曝光形成的兩個再現象之間的...
光纖干涉儀,光學現象干涉的儀器。干涉現象是光學的基本現象,利用光纖實現光的干涉,是光干涉現象的重要套用。由於光纖取代透鏡系統構成的。光路具有柔軟、形狀可隨意...
干涉現象為簡諧波傳導過程中的基本現象之一,光波、水波及聲波等都會發生干涉。當兩束光波發生干涉時,會使有些區域變亮而有些區域變暗,即出現干涉條紋。干涉條紋的...
干涉法測量壓電陶瓷特性用自準法在光路中調整擴束鏡和分光鏡,使透鏡光軸與光束同軸、分光鏡與光束垂直。通過實驗掌握雷射測長儀的基本工作原理。...
光纖感測器分為傳光型(非功能型)和感測型(功能型)兩類,而干涉型光纖感測器就屬於感測型的光纖感測器,它同時具有光纖感測器和干涉測量的優點。外部信號作用到干涉型...
1 比較法 2 印模法 3 觸針法 4 干涉法 5 光切法 表面粗糙度測量比較法 編輯 將表面粗糙度比較樣塊(簡稱樣塊,圖1)根據視覺和觸覺與被測表面比較,判...
光學測量實驗 實驗一 平行光管調校 實驗二 V稜鏡折光儀測量折射率和色散 實驗三 光學零件曲率半徑測量 實驗四 放大率法測量焦距和頂焦距 實驗五 雷射球面干涉儀檢...
從雷射具有的基本特性出發,介紹雷射測距技術、雷射都卜勒測量技術、雷射干涉法幾何量測量技術、雷射干涉法光學面形測量技術、雷射測徑與雷射衍射測量技術、雷射位移...
其採用可見光將特定的光柵條紋投影到測量工作表面,藉助兩個高解析度CCD數位相機對光柵干涉條紋進行拍照,利用光學拍照定位技術和光柵測量原理,可在極短時間內獲得複雜...