光學測量技術與套用

《光學測量技術與套用》是馮其波所著的一本書籍，該書以光學測量方法與技術為中心，全面地介紹了光學測量所涉及的基本理論、測量原理、方法以及技術特點等，內容豐富。既注重基本概念和基本原理的講述，又注重將理論與套用緊密結合，並突出近年來光學測量技術上的最新科研成果以及相關領域發展態勢，具有較高的使用及參考價值。

基本介紹

• 書名：光學測量技術與套用
• 作者：馮其波
• ISBN：9787302171362
• 出版社：清華大學

內容簡介

本書以光學測量方法與技術為中心，全面地介紹了光學測量所涉及的基本理率、測量原理、方法以及技術特點，既注重基本概念和基本原理的講述，又注重將理論與套用緊密結合，並突出近年來光學測量技術上的最新科研成果以及相關領域發展態勢。全書共分7章，第1章介紹了光學測量涉及的基本知識，第2章～第4章分別介紹了干涉測量技術、雷射全息測量與散斑測量技術以及雷射衍射測量和莫爾條紋技術；第5章講述了巨觀三維形狀測量技術和微觀三維形貌測量技術；第6章介紹了雷射都卜勒測速與雷射測距技術；第7章介紹了光纖感測技術。本書可作為高等院校光信息科學與技術、光學工程、儀器儀表、機械電子工程、自動化等專業本科學生的教學用書，也可供從事相關專業的科研技術人員學習參考。

出版信息

I

出版時間：2008-05-01

版 次：初版

開 本：16開

包 張：平裝

目錄

第1章光學測量的基礎知識

1.1基本概念、基本方法、套用領域及發展趨勢

1.1.1基本概念

1.1.2基本構成

1.1.3主要套用範圍

1.1.4基本方法

1.1.5發展趨勢

1.2光學測量中的常用光源

1.2.1光源選擇的基本要求和光源的分類

1.2.2熱光源

1.2.3氣體放電光源

1.2.4固體發光光源

1.2.5雷射光源

1.3光學測量中的常用光電探測器

1.3.1常用光電探測器的分類

1.3.2光電探測器的主要特性參數

1.3.3常用光電探測器的介紹

1.4光學測量系統中的噪聲和常見處理電路

1.4.1光學測量系統中的噪聲

1.4.2光學測量系統中的常用電路

1.5光學測量中常用調製方法與技術

1.5.1概述

1.5.2機械調製法

1.5.3利用物理光學原理實現的光調製技術

本章參考文獻

第2章光干涉技術

2.1光干涉的基礎知識

2.1.1光的干涉條件

2.1.2干涉條紋的形狀

2.1.3干涉條紋的對比度

2.1.4產生干涉的途徑

2.2干涉光學測量技術

2.2.1概述

2.2.2泰曼-格林干涉儀

2.2.3移相干涉儀

2.2.4共路干涉儀

2.3雷射干涉儀

2.3.1麥可遜干涉儀

2.3.2實用雷射干涉儀主要構件的作用原理

2.4白光干涉儀

2.5外差式雷射干涉儀

2.5.1概述

2.5.2雙頻雷射干涉儀

2.5.3雷射測振儀

2.6絕對長度干涉計量

2.6.1柯氏絕對光波干涉儀

2.6.2雷射無導軌測量

2.6.3雷射跟蹤測量

2.7雷射多自由度同時測量技術

2.7.1概述

2.7.2直線度測量

2.7.3偏擺角和俯仰角度的測量

2.7.4滾轉角測量

2.7.5多自由度同時測量

本章參考文獻

第3章雷射全息測量與散斑測量技術

3.1全息術及其基本原理

3.1.1全息術基本原理

3.1.2全息圖的類型

3.1.3全息基本設備

3.2雷射全息干涉測量技術

3.2.1全息干涉測量方法

3.2.2雷射全息干涉測量技術的套用

3.3雷射散斑干涉測量

3.3.1散斑的概念

3.3.2散斑照相測量原理及套用

3.3.3散斑干涉測量原理及套用

3.3.4電子散斑干涉測量(ESPI)

本章參考文獻

第4章雷射衍射測量和莫爾條紋技術

4.1雷射衍射測量基本原理

4.1.1單縫衍射測量

4.1.2圓孔衍射測量

4.1.3光柵衍射測量

4.2莫爾條紋測試技術

4.2.1莫爾條紋的形成原理

4.2.2莫爾條紋的基本性質

4.2.3莫爾條紋測試技術

本章參考文獻

第5章光學三維測量技術

5.1物體巨觀三維形狀測量技術概述

5.1.1接觸式測量

5.1.2非接觸式測量法

5.1.3主動巨觀三維形狀測量技術

5.2雷射三角法測量物體三維形狀

5.2.1雷射三角法的測量原理

5.2.2雷射線光三維形狀測量技術

5.2.3雷射同步掃描三維形狀測量技術

5.3基於光柵投射的三維形狀測量技術

5.3.1光柵投射法測量三維形狀的基本原理

5.3.2相位測量技術

5.4光學三維形狀測量技術的套用

5.5微觀表面三維形貌測量技術概述

5.5.1微觀表面形貌測量技術的發展

5.5.2表面形貌二維評定參數

5.5.3微觀表面三維形貌測量的特點

5.6微觀表面三維形貌的機械式探針測量技術

5.7微觀表面三維形貌的光學式探針測量技術

5.7.1焦點探測方法

5.7.2干涉測量技術

5.7.3微觀表面三維形貌測量儀器的測量解析度和量程

本章參考文獻

第6章雷射時速與測距技術

6.1都卜勒效應與都卜勒頻移

6.2雷射都卜勒測速技術

6.2.1雷射都卜勒測速的基本原理

6.2.2雷射都卜勒測速技術

6.2.3雷射都卜勒測速技術的進展

6.3雷射測距技術

6.3.1脈衝雷射測距

6.3.2相位雷射測距

本章參考文獻

第7章光纖感測技術

7.1光傳輸的基本理論

7.1.1反射和折射

7.1.2全反射

7.1.3光的干涉

7.1.4光波導

7.2光纖感測技術

7.2.1強度調製型光纖感測技術

7.2.2相位調製型光纖感測技術

7.2.3偏振調製型光纖感測技術

7.2.4波長調製型光纖感測技術

7.2.5光纖分散式感測技術

本章參考文獻