| 中文名稱 | 雷射干涉測量 |
| 英文名稱 | laser interferometry |
| 定 義 | 以雷射為光源，以雷射波長或雷射頻率為基準，利用光的干涉原理進行精密測量的方法。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），雷射器件和雷射設備-雷射套用（三級學科） |
| 中文名稱 | 雷射干涉測量 |
| 英文名稱 | laser interferometry |
| 定 義 | 以雷射為光源，以雷射波長或雷射頻率為基準，利用光的干涉原理進行精密測量的方法。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），雷射器件和雷射設備-雷射套用（三級學科） |
雷射干涉儀,以雷射波長為已知長度,利用邁克耳遜干涉系統測量位移的通用長度測量。... 雷射干涉儀,以雷射波長為已知長度,利用邁克耳遜干涉系統測量位移的通用長度測量。
中文名稱 雷射干涉測量 英文名稱 laser interferometry 定義 以雷射為光源,以雷射波長或雷射頻率為基準,利用光的干涉原理進行精密測量的方法。 套用學科 機械工程(...
除此之外,由於雷射干涉儀能夠非常精確地測量干涉中的光程差,在當今的引力波探測中麥可遜干涉儀以及其他種類的干涉儀都得到了相當廣泛的套用。雷射干涉引力波天文台...
《雷射測量技術概論》是國防工業出版社2017年出版的圖書,作者是楊照金、崔東旭、紀明。...
《精密雷射測量技術與系統》是2015年科學出版社出版的圖書,作者是胡鵬程、陸振剛、鄒麗敏、崔繼文、楊宏興。...
《雷射光電檢測》是2004年1月國防科技大學出版社出版的圖書,作者是呂海寶。本書主要介紹了雷射原理的基本知識、雷射干涉、雷射衍射、雷射全息干涉測量、光纖感測檢測...
單頻雷射干涉儀 從雷射器發出的光束,經擴束準直後由分光鏡分為兩路,並分別從固定反射鏡和可動反射鏡反射回來會合在分光鏡上而產生干涉條紋。...
《雷射感測與測量》是科學出版社2014年出版的圖書,作者是焦明星等。... 內容包括:雷射基本原理及特性,常用雷射技術和雷射器,雙頻雷射器和雷射感測器,雷射干涉測量,...
全書共分7章,第1章介紹了光學測量涉及的基本知識,第2章～第4章分別介紹了干涉測量技術、雷射全息測量與散斑測量技術以及雷射衍射測量和莫爾條紋技術;第5章講述了...
雷射都卜勒測振儀是利用雷射都卜勒效應對物體振動進行測量 的一種測量儀器 . 與傳統的加速度計等感測器相比具有可以遠距離測量 ,非接觸性 ,空間解析度高 ,測量時間...
第5章:飛秒脈衝雷射頻率梳絕對距離測量,介紹飛秒光頻梳測距技術發展概況、飛秒光頻梳及其產生、 光頻梳絕對距離測量技術基礎、飛秒光頻梳測距方法、光梳多波長干涉...
常用的探測器有棒狀探測器和雷射干涉儀等,這些探測器的主要運作原理是測量引力波通過時對兩個相隔遙遠位置之間距離的影響。1960年代起,多個引力波探測器陸續被建造...
第5～7章介紹了雷射測試技術,包括雷射準直、測速、測距以及干涉、衍射測試技術;第8章介紹了技術成熟套用廣泛的莫爾條紋、圖像測試、光纖感測、層析探測、共焦掃描...
如用電磁波散射法研究電離層;由雷射散射法可測定實驗室電漿的電子溫度和電子密度分布;由微波干涉法或雷射干涉法可測電子密度分布;由中性粒子束的衰減可測量密度...
雙頻雷射干涉儀的測量範圍為(1~24)m,接長後可測至100m。相對不確定度 。雷射干涉比長儀工作基準是由氦——氖雷射器(相對不確定度 )與儀器主體組成的雷射干涉...
5.7 雷射干涉儀測量誤差分析第6章 重型數控工具機-地基基礎系統動態特性研究6.1 一種簡單的系統預估模型6.2 多體系統理論模型6.3 重型數控工具機-地基基礎系統仿真...
空間“太極計畫”作為中國空間引力波探測計畫,規劃在2033年前後將發射由位於等邊三角形頂端三顆衛星組成的引力波探測星組,用雷射干涉方法進行中低頻波段(0.1mHz-1....
在電漿電子數密度的測量上,雷射干涉法可測量微波干涉法所不能測量的高密度區(圖2)。雷射診斷主要分雷射散射、雷射干涉和雷射光譜的套用等方面。