基本介紹
- 書名：光電測試技術（第3版）
- 作者：范志剛,張旺,陳守謙等
- ISBN：9787121252624
- 出版社：電子工業出版社
- 出版時間：2015-01-01
圖書內容,目錄,
圖書內容
本書以光電測試方法為主線，較全面地介紹了在光電測試技術中所涉及的基本理論和概念、主要測試原理、測試方法、儀器組成和主要技術特點。
本書除緒論外共8章，緒論介紹了光電測試技術的發展歷史、概況、特點，以及在光電測試技術中的數據處理方法；第1章介紹了光電測試技術中的光輻射體和光輻射探測器的基本性能和特點；第2章介紹了光學系統性能的測試技術；第3章介紹了光學元件特性的測試技術；第4章介紹了色度學的基本原理和色度測試技術；第5～7章介紹了雷射測試技術，包括雷射準直、測速、測距以及干涉、衍射測試技術；第8章介紹了技術成熟套用廣泛的莫爾條紋、圖像測試、光纖感測、層析探測、共焦掃描顯微技術及納米技術中的光電測試技術等。
上述光電測試技術廣泛地套用於工業、農業、文教、衛生、國防、科研和家庭生活等各個領域。
目錄
緒論
第1章 光輻射體與光輻射探測器件
1.1 輻射度學與光度學基礎
1.1.1 輻射度學與光度學的基本物理量
1.1.2 輻射度學與光度學的基本定律
1.1.3 光輻射量計算舉例
1.1.4 光輻射在大氣中的傳播
1.2 光輻射體
1.2.1 人工光輻射體（光源）的基本性能參數
1.2.2 自然光輻射體
1.2.3 人工光輻射體
1.3 光輻射探測器件
1.3.1 光輻射探測器件的性能參數
1.3.2 光子探測器
1.3.3 熱探測器件
思考題與習題1
第2章 光學系統測試技術
2.1 光電系統的對準和調焦技術
2.1.1 目視系統的對準和調焦
2.1.2 光電對準技術
2.1.3 光電調焦技術
2.2 焦距的測量
2.2.1 概述
2.2.2 放大率法
2.2.3 附加透鏡法
2.2.4 精密測角法
2.2.5 莫爾偏折法
2.3 星點檢驗
2.3.1 星點檢驗的理論基礎
2.3.2 星點檢驗條件
2.4 解析度測試技術
2.4.1 衍射受限系統的解析度
2.4.2 解析度測試方法
2.5 光度學量測試技術
2.5.1 積分球及其套用
2.5.2 光學系統像面照度均勻性測試技術
2.5.3 光學系統透過率測試技術
2.5.4 光學系統雜散光分析與測試
2.6 光學傳遞函式測試技術
2.6.1 光學傳遞函式測試基礎
2.6.2 光學傳遞函式測試原理及方法
2.6.3 光學傳遞函式用於像質評價
思考題與習題2
第3章 光學元件特性測試技術
3.1 光學材料特性測試
3.1.1 光學材料折射率的測量
3.1.2 色散係數的測量
3.1.3 光學材料折射率溫度係數的測試
3.1.4 光學材料其他參數的測試
3.2 光學元件面形測試技術
3.2.1 刀口陰影法
3.2.2 子孔徑拼接測試技術
3.2.3 自由曲面的面形測試技術
3.3 微光學元件參數測試
3.3.1 衍射光學元件衍射效率測試
3.3.2 衍射光學元件表面形貌測量
3.3.3 微透鏡陣列焦距測量
3.4 自聚焦透鏡參數測試
3.4.1 自聚焦透鏡折射率分布測試
3.4.2 自聚焦透鏡數值孔徑的測量
3.4.3 自聚焦透鏡周期長度的測量
3.4.4 自聚焦透鏡焦斑直徑的測量
思考題與習題3
第4章 色度測試技術
4.1 色度學的基本概念和實驗定律
4.1.1 顏色混合定律
4.1.2 色度學中的基本概念
4.1.3 CIE標準色度系統
4.1.4 CIE標準照明體和標準光源
4.2 CIE色度計算方法
4.2.1 色品坐標計算
4.2.2 顏色相加計算
4.2.3 主波長和色純度計算
4.3 色度的測試方法和套用
4.3.1 顏色的測量方法和儀器
4.3.2 有色光學玻璃的色度測量例
4.3.3 白度的測量
思考題與習題4
第5章 雷射測試技術
5.1 雷射概述
5.1.1 雷射的基本性質
5.1.2 高斯光束
5.2 雷射準直技術及套用
5.2.1 雷射束的壓縮技術
5.2.2 雷射準直測試技術
5.2.3 雷射準直測試技術的套用
5.3 雷射都卜勒測速技術
5.3.1 雷射都卜勒測速技術基礎
5.3.2 雷射都卜勒測速技術的套用
5.4 雷射測距技術
5.4.1 雷射相位測距
5.4.2 脈衝雷射測距
5.5 雷射三角法測試技術
5.5.1 雷射三角法測試技術基礎
5.5.2 雷射三角法測試技術的套用
思考題與習題5
第6章 雷射干涉測試技術
6.1 雷射干涉測試技術基礎
6.1.1 干涉原理與干涉條件
6.1.2 影響干涉條紋對比度的因素
6.1.3 共程干涉和非共程干涉
6.1.4 干涉條紋的分析與波面恢復
6.1.5 提高解析度的方法和干涉條紋的信號處理
6.2 雷射斐索型干涉測試技術
6.2.1 雷射斐索型平面干涉測量
6.2.2 斐索型球面干涉儀
6.3 波面剪下干涉測試技術
6.3.1 波面剪下干涉技術基本原理
6.3.2 橫向剪下干涉儀及套用
6.3.3 徑向剪下干涉儀及套用
6.4 雷射全息干涉測試技術
6.4.1 全息術及其基本原理
6.4.2 全息干涉測試技術
6.4.3 全息干涉測試技術套用
6.5 雷射外差干涉測試技術
6.5.1 雷射外差干涉測試技術原理
6.5.2 雷射外差干涉測試技術套用
6.6 雷射移相干涉測試技術
6.6.1 雷射移相干涉測試技術原理
6.6.2 雷射移相干涉測試技術的特點
6.6.3 雷射移相干涉測試技術套用
思考題與習題6
第7章 雷射衍射測試技術
7.1 雷射衍射測試技術基礎
7.1.1 惠更斯菲涅耳原理
7.1.2 巴俾涅原理
7.1.3 單縫衍射
7.1.4 圓孔衍射
7.2 雷射衍射測量方法
7.2.1 間隙測量法
7.2.2 反射衍射測量法
7.2.3 分離間隙法
7.2.4 互補測量法
7.2.5 艾里斑測量法
7.2.6 衍射頻譜檢測法
7.3 衍射光柵及其套用
7.3.1 衍射光柵的基本特性
7.3.2 衍射光柵的典型套用
思考題與習題7
第8章 其他典型光電測試技術
8.1 莫爾測試技術
8.1.1 莫爾測試技術基礎
8.1.2 莫爾形貌（等高線）測試技術
8.1.3 莫爾測試技術的套用
8.2 圖像測試技術
8.2.1 圖像信息的獲取
8.3.2 圖像的預處理技術
8.2.3 圖像測試技術的套用
8.3 光纖感測技術
8.3.1 光纖感測技術基礎
8.3.2 光纖感測技術典型套用
8.4 層析探測技術
8.4.1 層析探測技術基礎
8.4.2 層析探測技術套用
8.5 雷射共焦掃描顯微技術
8.5.1 雷射共焦掃描顯微技術原理
8.5.2 雷射共焦掃描顯微技術的套用
8.6 納米技術中的光電測試技術
8.6.1 掃描隧道顯微鏡（STM）
8.6.2 掃描近場光學顯微鏡（SNOM）
8.6.3 光子掃描隧道顯微鏡（PSTM）
8.6.4 亞納米零差檢測干涉系統
8.6.5 亞納米外差檢測干涉系統
8.6.6 亞納米X射線干涉測試技術
8.6.7 亞納米表面增強拉曼散射測試技術
思考題與習題8
參考文獻
