干涉法測量壓電陶瓷特性用自準法在光路中調整擴束鏡和分光鏡，使透鏡光軸與光束同軸、分光鏡與光束垂直。通過實驗掌握雷射測長儀的基本工作原理。
基本介紹
- 中文名：干涉法測量壓電陶瓷特性
- 使用方法：干涉法
- 原理：麥可遜干涉儀的典型套用
- 詞條類型：物理實驗
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實驗目的
1.通過實驗掌握雷射測長儀的基本工作原理。
2.掌握搭設雷射光路基本方法與技巧。
3.學會用干涉方法測量微小位移。
實驗原理
圖 11－1
由 Ne— Ne雷射器發出的光經分光鏡G後，光束被分成兩路，反射光射向參考鏡M1（固定），透射光射向測量鏡M2
（可移動），兩路光分別經M1、M2反射後，在分光鏡處會合，在接受屏P處產生干涉條紋，通過給壓電陶瓷加電壓使M2
的移動，干涉條紋發生變化，由於干涉條紋明暗變化一次，相當於測量鏡M2移動了入/2，若條紋變化N 次，則位移L由下式確定 ：
L = N · 入/2 （11 — 1）
所以通過測出條紋的變化數就可計算出位移量，這就是雷射測長儀的基本原理。
實驗儀器
實驗內容
1.推導位移L與條紋變化數N的關係式。
2.測量位移L與電壓U的關係，並描出 U — L曲線。
3.計算出最大位移量Lmax。
實驗要求
1.調整雷射器使之發出的光與平台平行。
2.用自準法在光路中調整擴束鏡和分光鏡，使透鏡光軸與光束同軸、分光鏡與光束垂直。
3.給壓電陶瓷加電，要求干涉條紋每變化一次記錄相應的電壓值。
注意事項
1.調整光路時不能用眼睛正對雷射束，以免傷害眼睛。要用白紙接收光。
2.連線電源時注意不要短路，電壓最高加至300V。
