採用靜電式電子透射的電子顯微鏡。
| 中文名稱 | 靜電電子顯微鏡 |
| 英文名稱 | electrostatic electron microscope |
| 定 義 | 採用靜電式電子透射的電子顯微鏡。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子顯微鏡（三級學科） |
採用靜電式電子透射的電子顯微鏡。
| 中文名稱 | 靜電電子顯微鏡 |
| 英文名稱 | electrostatic electron microscope |
| 定 義 | 採用靜電式電子透射的電子顯微鏡。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子顯微鏡（三級學科） |
採用靜電式電子透射的電子顯微鏡。...
電子透鏡用來聚焦電子，是電子顯微鏡鏡筒中最重要的部件。一般使用的是磁透鏡，有時也有使用靜電透鏡的。它用一個對稱於鏡筒軸線的空間電場或磁場使電子軌跡向軸線彎曲形成聚焦，其作用與光學顯微鏡中的光學透鏡（凸透鏡）使光束聚焦的作用...
Microscope，SPM）是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡（原子力顯微鏡，靜電力顯微鏡，磁力顯微鏡，掃描離子電導顯微鏡，掃描電化學顯微鏡等）的統稱，是國際上近年發展起來的表面分析儀器，是綜合運用光電子...
SUPRA 40是一款高解析度場發射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高解析度成像和非導體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發射電鏡適用於...
以ULTRA PLUS掃描電子顯微鏡為例，其電子通道的污染會形成一個局部的靜電場，干擾電子束的正常聚焦。雖然電鏡中設定八極電磁式消像散器，可產生一個弱的校正磁場，但其作用是有限的。若電子通道污染，則需清洗光闌和其他電子束通道部位來...
世界可見光及電子光學的領導企業——德國蔡司公司始創於1846年。其電子光學前身為LEO（里奧），更早叫Cambridge（劍橋）和Zeiss。積掃描電鏡領域40多年及透射電鏡領域60年的經驗，ZEISS電子束技術在世界上創造了數個第一：·第一台靜電式...
電子顯微鏡中的電子通常通過電子熱發射過程從鎢燈絲上射出，或者採用場電子發射方式得到。隨後電子通過電勢差進行加速，並通過靜電場與電磁透鏡聚焦在樣品上。透射出的電子束包含有電子強度、相位、以及周期性的信息，這些信息將被用於成像。...
FIM是點投影的顯微鏡，結構很簡單。但與通常的高解析度電子顯微鏡不同，它成像時不使用磁或靜電透鏡，是由所謂成像氣體的“場電離”過程來完成的。構造 FIM（FieldIonMicroscope）是最早達到原子解析度，也就是最早能看得到原子 尺度的...
場離子顯微鏡與通常的高解析度電子顯微鏡性質不同，它成像時不使用磁或靜電透鏡，是由所謂成像氣體的“場電離”過程來完成的。實驗時,鏡體內保持超高真空（10Torr以下）。用電解腐蝕法製成的針狀樣品（其尖端曲率半徑小於1000）裝於鏡體內...
光電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2011年5月24日啟用。技術指標 Focus PEEM的電子光學系統包括三級靜電透鏡系統，結合精心設計的消像散器/偏轉模組，使得Focus PEEM具有極高的空間解析度。 1.符合VT-SPM UHV系統工作條件...
電子束：解析度：≤1.0nm@15KV，≤1.9nm@1kV放大倍率：12x～1000kx最低加速電壓：≤0.1kV無漏磁電磁物鏡+靜電透鏡複合物鏡結構，可對磁性材料近距離高分辨觀察；能實現高解析度觀察下的邊切邊看實時觀察（非小物鏡模式）；離子束：...
一切原子都由一個帶正電的原子核和圍繞它運動的若干電子組成。電荷的定向運動形成電流，如金屬導線中的電流。利用電場和磁場，能按照需要控制電子的運動（在固體、真空中），從而製造出各種電子儀器和元件，如各種電子管、電子顯微鏡等。電...
聚焦離子束掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學、化學、物理學、航空、航天科學技術領域的分析儀器，於2013年10月21日啟用。技術指標 SEM 解析度：高真空：3.0nm（30kV）；10nm（3kV） 低真空：4.0nm（30kV） 放大倍數: 5-300,000 ...
可是，如果帶有足夠高電荷的電氣絕緣的導體（螺絲起子）靠近有相反電勢的積體電路（IC）時，電荷"跨接"，引起靜電放電（ESD）。ESD以極高的強度很迅速地發生，通常將產生足夠的熱量熔化半導體晶片的內部電路，在電子顯微鏡下外表象向外吹...