雙束場發射聚焦離子束及掃描電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、材料科學、電子與通信技術領域的分析儀器,於2014年2月27日啟用。
基本介紹
- 中文名:雙束場發射聚焦離子束及掃描電子顯微鏡
- 產地:美國
- 學科領域:物理學、化學、材料科學、電子與通信技術
- 啟用日期:2014年2月27日
- 所屬類別:分析儀器 > 環境與農業分析儀器
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技術指標
電子束夜舟踏她解析度挨鞏祝:地犁0.9nm,離子束店灶煮才解析度:4nm。
主要功能
製備透射妹悼妹電鏡樣想故鑽刪只微品。
雙束場發射聚焦離子束及掃描電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、材料科學、電子與通信技術領域的分析儀器,於2014年2月27日啟用。
雙束場發射聚焦離子束及掃描電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、材料科學、電子與通信技術領域的分析儀器,於2014年2月27日啟用。技術指標 電子束解析度:0.9nm,離子束解析度:4nm。主要功能 製備透射電鏡樣品。
通入特殊氣體,也可實現由離子束誘導的金屬和絕緣體氣相沉積。另外,通過加入環境掃描附屬檔案,可以實現環境掃描觀測功能,通過加裝掃描透射附屬檔案,可以實現掃描透射功能。擬購置的電子束聚焦離子束雙束系統為在納米尺度下製造和加工提供極大的...
聚焦離子束雙束電子顯微鏡是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2016年10月1日啟用。技術指標 成像解析度0.6 nm @ 15kV-2kV;0.7 nm@ 1 kV;電子束流0.8 pA-100nA;離子切割薄片厚度最優可達3.0nm。主要功能 進行岩石微納米...
場發射電子束/聚焦離子束雙束工作站是一種用於電子與通信技術領域的醫學科研儀器,於2015年12月16日啟用。技術指標 Electron beam: ≤1.0nm@15V,≤1.9nm@1KV;Ion Beam:≤2.5nm@30kV。主要功能 雙束系統中場發射掃描電鏡主要用於...
《Nanoscale》旨在發表納米科學和納米技術範圍內理論性和實驗性的著作,包含各類研究文章,如通訊、綜述和全文文章,融合了納米各個學科的Nanoscale涵蓋了醫學、材料、能源/環境、信息技術、檢測科學、衛生保健、藥物發現和電子學等多個領域。