超高真空低溫掃描探針顯微鏡

超高真空低溫掃描探針顯微鏡

超高真空低溫掃描探針顯微鏡是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年4月28日啟用。

基本介紹

  • 中文名:超高真空低溫掃描探針顯微鏡
  • 產地:德國
  • 學科領域:化學
  • 啟用日期:2017年4月28日
  • 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
技術指標,主要功能,

技術指標

真空:1×10-10 mbar。最低工作溫度:5 K。溫度穩定性:10 mK。可變溫度範圍:5K-300K。液氦消耗量:小於0.1L/小時 (5K)。掃描範圍:1 μm ×1 μm×0.1 μm (5K)。熱漂移:0.2 nm/小時。振動噪音:2 pm。最小隧道電流:1 pA。STM空間分辨:原子級分辨(0.1 nm)。樣品處理溫度: 1800 K。

主要功能

實現在超高真空環境液氦溫度下(~5K)和液氮溫度下(77K)的掃描隧道顯微學研究,可以得到穩定可靠的原子分辨STM和AFM圖像,可以進行掃描隧道譜(STS),非彈性隧道譜(IETS)、分子與原子操縱、自旋極化STM、STM與光學譜的結合等實驗。

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