環境掃描式電子顯微鏡是一種用於物理學、地球科學、材料科學領域的分析儀器,於2003年01月15日啟用。
基本介紹
- 中文名:環境掃描式電子顯微鏡
- 產地:美國
- 學科領域:物理學、地球科學、材料科學
- 啟用日期:2003年01月15日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 雷射共焦顯微鏡
環境掃描式電子顯微鏡是一種用於物理學、地球科學、材料科學領域的分析儀器,於2003年01月15日啟用。
環境掃描式電子顯微鏡是一種用於物理學、地球科學、材料科學領域的分析儀器,於2003年01月15日啟用。技術指標 解析度:3.5nm(30kv,高真空模式);放大倍率:5~200000倍 加速電壓:30KV 樣品最大尺寸:X=50mm,Y=50mm,Z=50mm ...
還可分析生物樣品和非導電樣品(背散射和二次電子像)、分析液體樣品以及土20°C內的固液相變過程觀察。簡要介紹 ESEM是環境掃描電子顯微鏡(EnvironmentalScanningElectronMicroscope)的英文縮寫。由於在它物鏡的下極靴處裝有一壓差光闌(...
主要用途: Quanta 200 FEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和ESEM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢中文名 場發射環境掃描電子顯微鏡 主要用途 Quanta 200 儀器類別 台式掃描電子顯微鏡 指標信息 場發射環境掃描電子顯微鏡...
* 1926 Busch 發現電子可像光線經過玻璃透鏡偏折一般, 由電磁場的改變而偏折。1931德國物理學家Knoll 及Ruska 首先發展出穿透式電子顯微鏡原型機。1937 首部商業原型機製造成功(Metropolitan Vickers 牌)。* 1938 第一部掃描電子顯微鏡由...
環境掃描電鏡是一種用於物理學領域的分析儀器,於2014年3月19日啟用。技術指標 解析度:高真空模式:3.0nm(SE,30kV),4.0nm(BSE,30kV),8.0nm(SE,3kV) 低真空模式:3.0nm(SE,30kV),4.0nm(BSE,30kV) 環境...
雙束環境掃描式電子顯微鏡是一種用於物理學、農學、材料科學、礦山工程技術領域的分析儀器,於2009年7月1日啟用。技術指標 Voltage:200V to30KV Beam Current:小於200nA Resolution:1.2nm to30kv(SE) 放大倍數50萬倍、解析度:1.3nm...
台式掃描式電子顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器,於2017年06月15日啟用。技術指標 1.放大倍率:內置集成彩色光學顯微鏡,光學放大 20-135倍 電子放大 130,000倍(非數字放大) *2.背散射電子探測器解析度: 優於14nm *3.加速...
場發射環境掃描電子顯微鏡系統是一種用於化學、基礎醫學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2007年12月28日啟用。技術指標 解析度高真空30KV優於2.0nm/低真空時30KV優於3.5nm;環境真空:30KV優於2.0nm;對樣品...
掃描型電子顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器,於2017年7月14日啟用。技術指標 第四代 Phenom Pro 是一款使用高亮度 CeB6 燈絲的高解析度台式掃描電鏡。觀察納米或者亞微米樣品的微觀結構,放大倍數要求可達130,000 倍。基於新一代高...
1.在電子顯微鏡中樣本必須在真空中觀察,因此無法觀察活樣本。隨著技術的進步,環境掃描電鏡將逐漸實現直接對活樣本的觀察;2.在處理樣本時可能會產生樣本本來沒有的結構,這加劇了此後分析圖像的難度;3.由於電子散射能力極 強,容易發生...
筆者以德國蔡司ULTRA PLUS掃描電子顯微鏡為例,從環境條件、光學系統、真空系統及附屬檔案設施4個方面總結了熱場發射掃描電子顯微鏡運行狀態的幾種檢查方法和維護保養經驗,並結合故障實例進行了分析 [1] 。
介紹了一套由場發射環境掃描電子顯微鏡和高性能陰極螢光譜儀聯合構成的CL分析系統,它在CI成像質量、圖像解析度及CL譜分析等方面具有明顯優勢。利用這一系統獲得的鋯石高清晰CL圖像及CL譜圖分析結果顯示其在鋯石等發光礦物的微區結構特徵...
熱場發射環境掃描電鏡是一種用於物理學、化學、材料科學、生物學領域的分析儀器,於2005年9月15日啟用。技術指標 Quanta 400 FEG場發射掃描電子顯微鏡是表面分析重要的表征工具之一,具有靈活先進的自動化作業系統。具有三種成像真空模式--...
全自動台式掃描電子顯微鏡是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2015年12月10日啟用。技術指標 放大倍數20×-100000× 解析度優於18nm。主要功能 功能更全的光學顯微鏡,提高后的光學顯微鏡有聚焦功能,放大倍數在20-120...
上篇 掃描電鏡-X射線能譜儀基本原理 第1章 概述 1.1 掃描電鏡的產生和發展 1.2 掃描電鏡的種類與特點 1.2.1 掃描隧道顯微鏡(STM)1.2.2 雙束掃描電鏡(FIB)1.2.3 環境掃描電鏡(ESEM)1.2.4 冷凍掃描電鏡(Cryo...
日立掃描電子顯微鏡是一種用於化學、安全科學技術領域的分析儀器,於2016年5月7日啟用。技術指標 加速電壓-15kV;放大倍數-15x to 60,000x。主要功能 日立台式電鏡TM3030標配4分割背散射探測器,可採集來自四個不同方向的圖像信息,可以有...
台式掃描電子顯微鏡能譜一體機是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2017年6月27日啟用。技術指標 1.總體要求:設備在滿足解析度的前提下,成像快速,放置環境要求低,可隨意搬動,維護周期長 2.儀器形態:小型、桌面,可...
微納操縱及原位光電分析掃描電子顯微鏡系統是一種用於材料科學、機械工程領域的分析儀器,於2015年11月25日啟用。技術指標 高真空模式:30kV時優於1.0nm(SE),1kV時優於3.0nm(SE),30kV時優於2.5nm(BSE);;低真空模式:...
電子顯微鏡學會優秀論文獎1項 3.電鏡管理工作 管理維護環境掃描電鏡(2007年6月-2008年2月)。在這9個月中,培訓校內學生共54人,開放機時:環境掃描1143小時,能譜分析197小時,陰極螢光273小時。Tecnai F20高分辨透射電鏡的全部調研...
自1938年Ruska發明第一台透射電子顯微鏡至今,除了透射電鏡本身的性能不斷的提高外,還發展了其他多種類型的電鏡。如掃描電鏡、分析電鏡、超高壓電鏡等。結合各種電鏡樣品製備技術,可對樣品進行多方面的結構 或結構與功能關係的深入研究。...