雙束環境掃描式電子顯微鏡是一種用於物理學、農學、材料科學、礦山工程技術領域的分析儀器,於2009年7月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:雙束環境掃描式電子顯微鏡
- 產地:荷蘭
- 學科領域:物理學、農學、材料科學、礦山工程技術
- 啟用日期:2009年7月1日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
Voltage:200V to30KV Beam Current:小於危和遷戰200nA Resolution:1.2nm to30kv(SE) 放大倍數50萬倍、解析度:1.3nm。元祝協廈射雄
主要功能
材料嬸兵甩請顯微形貌射懂分析 、戶恥燥 選區元素市兵背分析 、 離子束微加工。