氬離子束拋光儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2016年12月21日啟用。
基本介紹
- 中文名:氬離子束拋光儀
- 產地:美國
- 學科領域:地球科學
- 啟用日期:2016年12月21日
- 所屬類別:分析儀器 > 樣品前處理及製備儀器
氬離子束拋光儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2016年12月21日啟用。
氬離子束拋光儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2016年12月21日啟用。技術指標離子槍:兩隻潘寧式離子槍,裝載微小磁鐵,聚焦離子束設計,離子槍角度:+10°到-10°,每隻離子槍可獨立調節,離子槍束能量:0.1ke...
氬離子拋光儀是一種用於工程與技術科學基礎學科、材料科學、礦山工程技術、機械工程領域的分析儀器,於2016年10月26日啟用。技術指標 減薄角度:+10o到-10o;離子槍束能量:0.1KeV~8 KeV;離子槍:雙束聚焦離子槍,無耗件;樣品交換...
氬離子截面拋光儀是一種用於材料科學領域的工藝試驗儀器,於2015年11月18日啟用。技術指標 兩把離子槍:加速電壓0.8kv-10kv可調,研磨速率:Cu:40um/h(8kv,3mA)單把離子槍30°照射角;SEM平面研磨樣品台最大樣品尺寸Φ25mm×12mm...
SEM截面樣品離子束拋光儀是一種用於地球科學領域的科學儀器,於2014年12月18日啟用。技術指標 1. 離子槍:兩隻潘寧式離子槍,裝載環形永磁鐵,聚焦離子束設計。離子槍無消耗品。 2. 離子槍束能量:0.1keV~6keV 3. 離子槍角度:...
截面離子拋光儀是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2012年6月11日啟用。技術指標 離子束加速電壓:2 ~ 6 kV; 束斑尺寸:500 μm (半峰值); 研磨速度:100 μm/1 hour (6 kV,Si); 樣品最大尺寸(mm):11×10×2 ; ...
截面拋光儀是一種用於數學領域的分析儀器,於2016年4月1日啟用。技術指標 離子加速電壓 2 ~ 8 kV 離子束直徑 500μm以上(半高寬) 研磨速率 500 μm/h最大樣品尺寸 11 mm(寬) × 10 mm(長) × 2 mm(高)。主要功能 ...