截面拋光儀

截面拋光儀是一種用於數學領域的分析儀器，於2016年4月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：截面拋光儀
• 產地：中國
• 學科領域：數學
• 啟用日期：2016年4月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

技術指標

離子加速電壓 2 ～ 8 kV 離子束直徑 500μm以上(半高寬) 研磨速率 500 μm/h最大樣品尺寸 11 mm（寬） × 10 mm（長） × 2 mm（高）。

主要功能

IB-19500CP離子研磨儀是一款操作簡便的制樣設備，用於SEM, EPMA, 和TEM的樣品製備。它可以製備軟的、硬的和複合材料的樣品，損傷、污染和變形可以控制得非常小。依靠離子束轟擊製備樣品剖面，觀察範圍大、清潔而且適用於幾乎所有材料。