掃描質子微探針分析

掃描質子微探針分析又稱微束質子x射線螢光(mirrn PI}},)分祈或質 子顯微鏡(prntor rnicrascape，分析。系用微米質妹斷凳子束對樣品 進行微區掃描的元素分析技術二基木原理是將高速質了束準 直、聚焦或微米束轟擊徉品，質子與樣品原子相互作用產生特 征x射線，用Sit Li}探測器測定樣品中元素的含徽。特點是 樣品用量少〔一幾個;}. 3 i、靈敏度高(比掃描埋希阿電鏡高z一3個數 量級)、檢測限低{1x1D 6一1D x 1D一“)、精確度為迎狼茅鍵1D0,}- 2n} ,空間解析度為f1.5一1如m,為非破壞性多元素{2D一3}7 個》同時分析，並可二維只探組掃描、獲得微區或一個點(一l }m)上 的元素分布信息。在精拘市生物學、考古學、地質學、材料科學方面 已有較多套用。近年來此技術在環境樣品如大氣顆粒物(吃 灰、煤塵).單個紙轎簽兆顆粒的兀素分析也得到了套用。SYM是當代 物理分析的高新技術，其應籃淚用範圍及作用將日益擴大.