質子激發X射線發射光譜分析

釋文：是20世紀60年代末發展起來的一種新的微量分析技術。經加速器加速的質子束聚焦後，空間解析度達微米，可以激發微區樣品的X射線，用高能量解析度的Si(Li)半導體探測器，檢測X射線能量及其強度，實現X射線光譜分析，並可同時進行背散射分析。與其他分析方法相比，具有檢測限低，快速和可同時進行多元素分析等優點。已套用於環境科學、生物學、醫學與地質學等領域的研究工作。由於質子束的直徑比較小，進行樣品分析時，所需的樣品量較少，0.n～n毫克試樣即可滿足要求。

基本介紹

• 中文名：質子激發X射線發射光譜分析
• 外文名：proton induced X-ray emis-sion spectral analysis
• 學科：岩礦分析與鑑定
• 技術類型：微量分析技術

質子束可以聚焦，進行微區分析，即現代的質子探針分析。其測定元素的檢測限比電子探針分析低2～3個數量級。