又稱掃描核探針（scanning nuclear microprobe,SNM）、掃描質子探針（scanning proton microprobe,SPM）
基本介紹
- 中文名：粒子激發X射線分析
- 外文名：particle induced X-ray emission
- 縮寫：PIXE
- 學科：岩礦分析與鑑定
學科,詞目,釋文,套用,
學科
岩礦分析與鑑定
詞目
粒子激發X射線分析
釋文
英文：particle induced X-ray emission（PIXE）
釋文：又稱掃描核探針（scanning nuclear microprobe,SNM）、掃描質子探針（scanning proton microprobe,SPM）。用能量為百萬電子伏量級的粒子束轟擊樣品，激發了樣品原子的內殼層（K,I,M…）電子，使之產生特徵X射線（Kα,Kβ,Lα,Lβ,Lγ…）。測量這些由不同原子產生的特徵X射線的能量，可獲悉樣品中的元素種類及其含量。這是近20年發展起來的一種微區含量分析技術，具有微米級空間分辨能力和微克/克級檢出限。對z>12的大多數元素的分析靈敏度可達10^-3量級，比電子探針的分析靈敏度高2～3個量級。
套用
本方法與微束技術相結合，以其微區或亞細胞分析、高靈敏度、多元素同時分析、快速、定量等特點，成為常用的核子微探針分析技術。本項技術是一個多元素分析的有力工具，能同時測定30多種元素，輻照面積小（直徑為幾毫米），最小探測量為10^-12克，不破壞樣品。套用領域包括：地質科學，經常分析過渡族元素和稀土元素；環境科學，測量大氣、氣溶膠、水質、飲料、廢水、廢氣、固體垃圾、土壤的元素種類、種態和含量；考古學，無損分析與鑑定。
