快速掃描生物型掃描探針顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器,於2018年10月9日啟用。
基本介紹
- 中文名:快速掃描生物型掃描探針顯微鏡
- 產地:中國
- 學科領域:物理學
- 啟用日期:2018年10月9日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
快速掃描生物型掃描探針顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器,於2018年10月9日啟用。
快速掃描生物型掃描探針顯微鏡 快速掃描生物型掃描探針顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器,於2018年10月9日啟用。技術指標 最快掃描156Hz。主要功能 掃圖、粘附力測試等。
生物型掃描探針顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2013年05月15日啟用。技術指標 x,y方向解析度高於0.01nm, 縱向解析度高於0.05nm. 可以做原子分辨的成像。主要功能 測試納米材料樣品形貌、粒度及表面粗糙度等。
生物掃描探針顯微鏡是一種用於材料科學、生物學、化學、基礎醫學領域的分析儀器,於2006年6月12日啟用。技術指標 Nanoscope IVa。主要功能 形貌掃描;表面粗糙度分析;表面電勢和形貌分析;納米力學性質;力曲線分析;化學探針掃描;微納米...
快速掃描環境控制掃描探針顯微鏡是一種用於物理學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2018年9月28日啟用。技術指標 通過密封單元實現氣體和液體灌注;可將樣本溫度控制在0-250°C;與刺激性化學物質高度兼容;接觸模式DART™脈衝頻率調製...
因此,掃描探針顯微鏡對樣品表面的粗糙度有較高的要求;由於系統是通過檢測探針對樣品進行掃描時的運動軌跡來推知其表面形貌,因此,探針的幾何寬度、曲率半徑及各向異性都會引起成像的失真(採用探針重建可以部分克服)
掃描型探針顯微鏡 掃描型探針顯微鏡是一種用於工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的分析儀器,於2003年11月1日啟用。技術指標 0.1nm/0.01nm。主要功能 形貌分析。
掃描式電子顯微鏡/掃描探針顯微鏡是一種用於化學領域的分析儀器,於2006年12月1日啟用。技術指標 XY方向解析度為0.2nm,Z方向為0.01nm,最大掃描範圍150*150um。主要功能 利用針尖與樣品表面原子間的微弱作用來作為反饋信號,維持針尖與...
快速掃描原子力顯微鏡是一種用於化學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2018年5月8日啟用。技術指標 接觸模式成像,輕敲模式成像, ScanAsyst智慧型掃描模式,空氣/溶液環境下定量納米力學模式, 掃描範圍: 35 μm×35 μm×3 μm。...
環境型掃描探針顯微鏡 環境型掃描探針顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器,於2012年12月01日啟用。技術指標 150um*150um,120K-500K, SPM的所有功能。主要功能 溫度從120K-500 K可調,可以在不同氣氛下觀察。
智慧型型掃描探針顯微鏡是一種用於物理學、材料科學、自然科學相關工程與技術領域的分析儀器,於2018年6月15日啟用。技術指標 MultiMode 8掃描探針顯微鏡系統技術參數: 擁有Tapping Mode、Contact Mode和Scanasyst Mode測試模式;橫向最大掃描...
AR掃描探針顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器,於2013年10月1日啟用。技術指標 Z向解析度0.06納米,樣品尺寸20mm,有下光路反射式光學顯微鏡。樣品尺寸:80mmXYZ掃描範圍:90um*90um*10um。主要功能 原子力顯微鏡(AFM)已經成為納米...
電化學掃描探針顯微鏡是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2009年12月10日啟用。技術指標 位系統解析度:Z: 100 nm + Piezo 5 nm;X, Y: 100 nm (ElProScan);X, Y: 15 nm (ElProScan HR)。掃描範圍:50mm (全...
SPM掃描探針顯微鏡是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2009年7月22日啟用。技術指標 原子力顯微鏡(AFM):橫向 0.26nm, 垂直 0.1nm(以雲母晶體標定);掃描隧道顯微鏡(STM):橫向 0.13nm, 垂直 0.01nm(以石墨...
原子力掃描探針顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器,於2012年12月21日啟用。技術指標 1. 大號掃描器 掃描範圍: 100 μm x 100 μm Z軸範圍: 7 μm 噪聲: 0.5? RMS 2. 小號掃描器 掃描範圍: 10 μm x 10 μm Z軸...
掃描探針顯微鏡分析方法通則 《掃描探針顯微鏡分析方法通則》是2020年12月1日實施的一項行業標準。備案信息 備案號:78234-2020 備案月報: 2020年第11號(總第247號)
生物型原子力顯微鏡是一種用於數學、物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2011年4月2日啟用。技術指標 1.掃描器範圍:XY軸90um、Z軸大於15um並可升級為40um2.掃描器噪音:XY軸開環精度0.1nm,閉環精度0.6nm非線性度小於0...
由於原子力顯微鏡既可以觀察導體,也可以觀察非導體,從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧於一九八五年所發明的,其目的是為了使非導體也可以採用類似掃描探針顯微鏡(SPM)的觀測方法。原...