原子力掃描探針顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器,於2012年12月21日啟用。
基本介紹
- 中文名:原子力掃描探針顯微鏡
- 產地:美國
- 學科領域:生物學
- 啟用日期:2012年12月21日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
原子力掃描探針顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器,於2012年12月21日啟用。
原子力掃描探針顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器,於2012年12月21日啟用。技術指標 1. 大號掃描器 掃描範圍: 100 μm x 100 μm Z軸範圍: 7 μm 噪聲: 0.5? RMS 2. 小號掃描器 掃描範圍: 10 μm x 10 μm Z軸...
掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡,靜電力顯微鏡,磁力顯微鏡,掃描離子電導顯微鏡,掃描電化學顯微鏡等)的統稱,是國際上近年發展起來的...
原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧於一九八五年所發明的,其目的是為了使非導體也可以採用類似掃描探針顯微鏡(SPM)的觀測方法。原子力顯微鏡(AFM)與掃描隧道顯微鏡(STM)最大的差別在於並非利用電子隧穿效應,而是...
原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描,從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規...
快速掃描原子力顯微鏡是一種用於化學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2018年5月8日啟用。技術指標 接觸模式成像,輕敲模式成像, ScanAsyst智慧型掃描模式,空氣/溶液環境下定量納米力學模式, 掃描範圍: 35 μm×35 μm×3 μm。...
SPM掃描探針顯微鏡是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2009年7月22日啟用。技術指標 原子力顯微鏡(AFM):橫向 0.26nm, 垂直 0.1nm(以雲母晶體標定);掃描隧道顯微鏡(STM):橫向 0.13nm, 垂直 0.01nm(以石墨...
布魯克原子力顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年9月11日啟用。技術指標 90µm x 90µm x 10µm(三方向閉環掃描器) ≤0.3 Å (全球最高水平) 主要功能 該儀器能夠實現測試內容包括AFM、PFM、EFM和MFM測試...
AR掃描探針顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器,於2013年10月1日啟用。技術指標 Z向解析度0.06納米,樣品尺寸20mm,有下光路反射式光學顯微鏡。樣品尺寸:80mmXYZ掃描範圍:90um*90um*10um。主要功能 原子力顯微鏡(AFM)已經成為納米...
大樣品台原子力顯微鏡是一種用於信息科學與系統科學、材料科學、力學領域的分析儀器,於2014年11月13日啟用。技術指標 樣品台尺寸210mm,負壓吸附;閉環掃描,掃描範圍90um*90um*10um,Z向噪聲 主要功能 表面形貌及力學電學特性測試,...
生物型原子力顯微鏡是一種用於數學、物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2011年4月2日啟用。技術指標 1.掃描器範圍:XY軸90um、Z軸大於15um並可升級為40um2.掃描器噪音:XY軸開環精度0.1nm,閉環精度0.6nm非線性度小於0...
低溫掃描原子力成像系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2019年4月29日啟用。技術指標 AFM/STM;解析度:0.1 nm(XY),0.05 nm(Z);真空:1.8´10(-8 )Pa;溫度:7 K。主要功能 在低溫高真空環境下,實現...
MFP-3D原子力顯微鏡是一種用於力學領域的分析儀器,於2019年4月18日啟用。技術指標 1)XY掃描器範圍不小於80 μm×80 μm。2)Z軸掃描器範圍不小於10 μm。3)掃描器帶有閉環感測器,XY軸閉環感測器噪音不大於150 pm,Z軸閉環...
原子力顯微鏡升級配件是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2015年12月26日啟用。技術指標 1) 在峰值力輕敲模式的基礎上體現智慧型掃描功能:自動設定掃描,用戶只需要選擇掃描速度及掃描範圍,系統即可自動調整反饋, 自動調整...
顯微鏡的發展歷史; 系統介紹掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡和掃描近場光學顯微鏡等掃描探針顯微鏡的主要成員; 扼要介紹磁力顯微鏡、靜電力顯微鏡等其他類掃描探針顯微鏡; 闡述掃描探針顯微鏡使用過程中可能遇到的一些問題及相應的處理方法; 論述掃...
高解析度原子力顯微鏡主機是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2015年1月18日啟用。技術指標 解析度:XY 0.001nm,Z解析度:0.05nm, 掃描器範圍:XY範圍50μm×50μm, Z掃描範圍:15μm,測量樣品尺寸:20mm×...
靜電力顯微鏡(英文名:Electrostatic Force Microscopy, 簡稱EFM)是一種利用測量探針與樣品的靜電相互作用,來表征樣品表面靜電勢能,電荷分布以及電荷輸運的掃描探針顯微鏡。靜電力顯微鏡的工作原理與原子力顯微鏡類似。關鍵部分都是由懸臂樑組成...
▪ 螢光顯微鏡 ▪ 掃描隧道顯微鏡 ▪ 原子力顯微鏡 ▪ 掃描探針顯微鏡 ▪ 電子顯微鏡 ▪ 透射電子顯微鏡 ▪ 掃描電子顯微鏡 ▪ 掃描透射電子顯微鏡 ▪ 高壓電子顯微鏡 ▪ 分析電子顯微鏡 ▪ 聚光鏡 ▪ 物鏡 ▪ ...
3.具有原子力顯微鏡的常用工作模式,如:接觸模式、半接觸模式、非接觸模式、摩擦力顯微鏡、相位成像模式、力調製模式、磁力顯微鏡、靜電力顯微鏡、粘附力成像、掃描電容顯微鏡、掃描開爾文探針顯微鏡、擴展電阻成像、壓電回響力顯微鏡等。。
數碼原子 賽克數碼即將進行的原子力顯微鏡研發計畫正是為了攻克這一技術難題,並設計出實用型產品而啟動。 納米技術指的是在...借鑑其方法,新型的顯微儀器和探測方法相繼問世,這就是掃描探針顯微鏡.