SPM掃描探針顯微鏡

SPM掃描探針顯微鏡是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2009年7月22日啟用。

基本介紹

• 中文名：SPM掃描探針顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：化學、材料科學、化學工程
• 啟用日期：2009年7月22日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

原子力顯微鏡(AFM)：橫向 0.26nm, 垂直 0.1nm（以雲母晶體標定）；掃描隧道顯微鏡(STM)：橫向 0.13nm, 垂直 0.01nm（以石墨晶體標定）；電流檢測靈敏度：≤10pA；力檢測靈敏度：≤5pN；掃描頻率：0.1～100Hz。

主要功能

用單一的掃描隧道/原子力探頭，集成了掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡、摩擦力顯微鏡、磁力和靜電力顯微鏡、導電原子力顯微鏡、液相掃描探針顯微鏡、環境控制掃描探針顯微鏡，工作模式包括接觸、輕敲、相移成像、抬起和納米加工等。採用32位數位訊號處理器、10M/100M快速乙太網接口和高速雙16位AD/DA採集轉換，系統功能、穩定性、控制採集精度和速度及可擴展性均為國內同類儀器的最高水平。