大樣品台原子力顯微鏡是一種用於信息科學與系統科學、材料科學、力學領域的分析儀器,於2014年11月13日啟用。
基本介紹
- 中文名:大樣品台原子力顯微鏡
- 產地:德國
- 學科領域:信息科學與系統科學、材料科學、力學
- 啟用日期:2014年11月13日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
大樣品台原子力顯微鏡是一種用於信息科學與系統科學、材料科學、力學領域的分析儀器,於2014年11月13日啟用。
大樣品台原子力顯微鏡是一種用於信息科學與系統科學、材料科學、力學領域的分析儀器,於2014年11月13日啟用。技術指標 樣品台尺寸210mm,負壓吸附;閉環掃描,掃描範圍90um*90um*10um,Z向噪聲 主要功能 表面形貌及力學電學特性測試,...
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM),一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感...
納米加工功能:矢量刻蝕、圖形刻蝕;最大掃描範圍:50μm×50μm掃描器 ;直接達到HOPG原子解析度精度。可選100μm掃描器)解析度:STM(X-Y向0.2nm;Z向0.02nm) AFM(X-Y向0.3nm;Z向0.04nm);超大樣品台設計:樣品尺寸≤...
安捷倫大樣品台原子力顯微鏡可以快速、準確地實現針尖定位和樣品定位。高精度的馬達驅動能幫助您自動準確定位到您感興趣的區域,同時帶有記憶功能,可以自動迅速而準確地回到原來每個樣品表面成像的位置,便於進行更多的深入研究。同時能很好地...
解析度界於接觸式和非接觸式之間,破壞樣品之機率大為降低,且不受橫向力的干擾。不過對很硬的樣品而言,針尖仍可能受損。優點:原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種...
大範圍XYZ三軸閉環掃描器( XY 大於80um, Z大於8um)。主要功能 生物型快速原子力顯微鏡主要用於納米材料表面結構及其力學性能、電性能、化學性能等方面的表征。可以對生物、無機和有機材料等樣品快速成像,捕捉細微結構的動態變化。
多功能原子力顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器,於2017年08月20日啟用。技術指標 縱向解析度: RMS 0.3 Å (垂直方向) 橫向解析度:0.2nm (XY方向),可得到穩定的雲母及石墨原子像 樣品台:樣品尺寸大於15mm,厚度...
原子力顯微鏡(AFM),是一種具有原子解析度的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。首台原子力顯微鏡在1985年研發成功,其模式可分為接觸模式和輕敲模式等多種模式。AFM探針由於套用範圍僅限於原子力顯微鏡,屬於高科技儀器的耗材,套用領域不廣,...
快速掃描型原子力顯微鏡是一種用於力學領域的計量儀器,於2017年4月17日啟用。技術指標 樣品台大小:210mm x 210mm,全自動樣品台,樣品固定方式:標配真空吸附,XY方向最大掃描範圍:90μm,Z方向最大掃描範圍:10μm,最大掃描速度...
紅外超發光二極體(SLD)λ= 850nm; 基線傾斜:主要功能 生物原子力顯微鏡能實現高級生物力學研究和生物樣品高分辨原子力成像。提供了定量活細胞機械性能成像、高分辨細胞和生物分子成像,以及原子力顯微鏡和倒置光學顯微鏡的無縫連線。
生物型原子力顯微鏡是一種用於數學、物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2011年4月2日啟用。技術指標 1.掃描器範圍:XY軸90um、Z軸大於15um並可升級為40um2.掃描器噪音:XY軸開環精度0.1nm,閉環精度0.6nm非線性度小於0...
螢光輔助成像原子力顯微鏡是一種用於化學領域的分析儀器,於2016年12月15日啟用。技術指標 掃描器100微米X100微米X15微米;10毫米X10毫米樣品台,定位精度高於100納米;36英寸X47英寸X30英寸防震台;Nanoscope V9型SPM控制器。主要功能 ...
光電磁模式原子力顯微鏡是一種用於化學領域的計量儀器,於2013年12月3日啟用。技術指標 工作模式:接觸式和非接觸式;解析度:XY(.1 nm),Z(.2 nm);三維工作樣品台:XY方向工作範圍25mm×25mm(手動),Z方向工作範圍27.5mm(...
原子力顯微鏡AFM的掃描範圍≥ 90 μm × 90 μm × 105 μm,樣品尺寸≥ 40 mm×50mm×15mm,配備全自動控制樣品台和數位化多通道控制器,儀器信號解析度≥4k × 4k。配置原位變溫樣品台和樣品池,以及其他多種測試功能模組。主...
利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力,從而達到檢測的目的,具有原子級的解析度。由於原子力顯微鏡既可以觀察導體,也可以觀察非導體,從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾...
1985年,Binnig, Gerber和Quate開發成功了首台AFM(atomic force microscope, 原子力顯微鏡)。在表面科學、納米技術領域、生物電子等領域, SPM(scanning probe microscopy)逐漸發展成為重要的、多功能材的材料表征工具。STM 要求樣品表面導電,...