AR掃描探針顯微鏡

AR掃描探針顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器，於2013年10月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：AR掃描探針顯微鏡
• 產地：美國
• 學科領域：數學
• 啟用日期：2013年10月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子探針

技術指標

Z向解析度0.06納米，樣品尺寸20mm,有下光路反射式光學顯微鏡。樣品尺寸：80mmXYZ掃描範圍：90um*90um*10um。

主要功能

原子力顯微鏡（AFM）已經成為納米尺度上進行三維測量的首選設備。可以為科研工作者提供最優的噪聲性能和完整的科學分析軟體環境，同時保證實驗具有高靈敏度和精確性。在眾多套用中，包括物理學、材料科學、高分子、化學、納米刻蝕、生物學和定量納米測量。