環境型掃描探針顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器,於2012年12月01日啟用。
基本介紹
- 中文名:環境型掃描探針顯微鏡
- 產地:日本
- 學科領域:數學
- 啟用日期:2012年12月01日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子探針
環境型掃描探針顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器,於2012年12月01日啟用。
環境型掃描探針顯微鏡 環境型掃描探針顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器,於2012年12月01日啟用。技術指標 150um*150um,120K-500K, SPM的所有功能。主要功能 溫度從120K-500 K可調,可以在不同氣氛下觀察。
快速掃描環境控制掃描探針顯微鏡是一種用於物理學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2018年9月28日啟用。技術指標 通過密封單元實現氣體和液體灌注;可將樣本溫度控制在0-250°C;與刺激性化學物質高度兼容;接觸模式DART™脈衝頻率調製...
多功能可控環境掃描探針顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器,於2013年3月7日啟用。技術指標 掃描範圍最大可達150μm×150繆m,樣品最大為2寸(直徑),Z方向最大起伏1.3μm。主要功能 凝聚態物理:納米結構與低維物理。
生物型掃描探針顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2013年05月15日啟用。技術指標 x,y方向解析度高於0.01nm, 縱向解析度高於0.05nm. 可以做原子分辨的成像。主要功能 測試納米材料樣品形貌、粒度及表面粗糙度等。
環境掃描電鏡是一種用於物理學領域的分析儀器,於2014年3月19日啟用。技術指標 解析度:高真空模式:3.0nm(SE,30kV),4.0nm(BSE,30kV),8.0nm(SE,3kV) 低真空模式:3.0nm(SE,30kV),4.0nm(BSE,30kV) 環境...
55*55*13 掃描速度:0.1~100Hz 環境控制:溫濕度、氣體氛圍環境、光照等條件和氣氛等條件。主要功能 通過控制氣氛腔內溫濕度、氣體氛圍環境、光照等條件和氣氛環境下對樣品的實時原位表面形貌結構及物理特性的觀察分析等豐富的研究。
快速掃描生物型掃描探針顯微鏡 快速掃描生物型掃描探針顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器,於2018年10月9日啟用。技術指標 最快掃描156Hz。主要功能 掃圖、粘附力測試等。
AFM全稱Atomic Force Microscope,即原子力顯微鏡,它是繼掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope)之後發明的一種具有原子級高分辨的新型儀器,可以在大氣和液體環境下對各種材料和樣品進行納米區域的物理性質包括形貌進行探測,或者直接...
《Nanoscale》旨在發表納米科學和納米技術範圍內理論性和實驗性的著作,包含各類研究文章,如通訊、綜述和全文文章,融合了納米各個學科的Nanoscale涵蓋了醫學、材料、能源/環境、信息技術、檢測科學、衛生保健、藥物發現和電子學等多個領域。
電化學掃描探針顯微鏡(ECSPM)儀器性能簡介:該設備集成了原子力顯微鏡(AFM)和隧道電流顯微鏡(STM)功能,可以觀測固態和液相環境中樣品的納米級表觀形貌,實現原子級分辨,並可以實現在電化學控制下線上原位的觀測和精細加工。X射線螢光...
電化學掃描探針顯微鏡(ECSPM)該設備集成了原子力顯微鏡(AFM)和隧道電流顯微鏡(STM)功能,可以觀測固態和液相環境中樣品的納米級表觀形貌,實現原子級分辨,並可以實現在電化學控制下線上原位的觀測和精細加工。X射線螢光光譜儀(XRF)...