多功能可控環境掃描探針顯微鏡

多功能可控環境掃描探針顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2013年3月7日啟用。

基本介紹

• 中文名：多功能可控環境掃描探針顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2013年3月7日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

掃描範圍最大可達150μm×150繆m，樣品最大為2寸（直徑），Z方向最大起伏1.3μm。

主要功能

凝聚態物理：納米結構與低維物理。