平板X射線探測器

平板X射線探測器是一種用於機械工程領域的特種檢測儀器，於2005年5月25日啟用。

基本介紹

• 中文名：平板X射線探測器
• 產地：美國
• 學科領域：機械工程
• 啟用日期：2005年5月25日
• 所屬類別：特種檢測儀器 > 射線檢測儀器 > 高性能射線DR/ICT線上檢測裝置

技術指標

探測器解析度1536×1920，象素127μm，採集速度7.5fps(1×1)，15fps(2×2)。

主要功能

工業錐束CT無損檢測系統部件，接收X射線成像。系統細節解析度0.6mm，幾何測量精度±0.08mm，零件差異對測量精度有一定影響。