X光顯微鏡系統平板探測器

X光顯微鏡系統平板探測器是一種用於地球科學、生物學、自然科學相關工程與技術領域的分析儀器，於2018年11月11日啟用。

基本介紹

• 中文名：X光顯微鏡系統平板探測器
• 產地：美國
• 學科領域：地球科學、生物學、自然科學相關工程與技術
• 啟用日期：2018年11月11日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器

技術指標

單視場尺寸：直徑：140mm；高度：93mm 通過X光顯微鏡專用的軟體和驅動，無需用戶二次升級或更改配置。

主要功能

X光平板探測器的使用能夠利用更少的射線獲取精度更高的成像效果。