原子分辨透射電子顯微鏡系統

原子分辨透射電子顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2017年12月21日啟用。

基本介紹

• 中文名：原子分辨透射電子顯微鏡系統
• 產地：日本
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2017年12月21日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡

技術指標

STEM HAADF解析度:63pm（300kv），105pm（200kv），105pm（160kv），136pm（80kv），欠樂奔192pm（60kv），314pm（40kv）. TEM信息分挨鞏祝辨率≤0.08nm（300kv）夜舟組台,≤0.09nm（200kv）,≤0.10nm（160kv）,≤0.13nm（遙寒酷80kv）悼重乎放,≤0.16nm（60kv）,≤0.22nm（40kv）。電子能量損地犁失譜分辨敬棗拘率 0.35eV @300kV。

主要功能

原子分辨成像，元素分析，光電物性測試。