基本介紹
- 書名：現代分析測試方法
- 作者：王斌 陳集
- ISBN：7502164529, 9787502164522
- 頁數：350頁
- 出版社：石油工業出版社
- 出版時間：2008年8月1日
- 開本：16
- 語種：簡體中文
基本信息,內容簡介,目錄,文摘,
基本信息
正文語種: 簡體中文
開本: 16
ISBN: 9787502164522
條形碼: 9787502164522
產品尺寸及重量: 25.8 x 18.2 x 1.8 cm ; 640 g
ASIN: B001IQ0XDY
內容簡介
《現代分析測試方法》較為詳細地介紹了X射線衍射分析、電子顯微分析、熱分析，紫外吸收光譜法、紅外吸收光譜法、雷射拉曼光譜法、核磁共振波譜法、質譜法等的基本原理、儀器結構和實驗方法， 著重討論了上述方法在材料組成和結構分析、表面和界面分析以及有機化台物的結構鑑定等方面的套用。
《現代分析測試方法》還扼要介紹了30餘種常用現代分析測試方法的工作原理和套用特點。
目錄
第一章 X射線衍射分析
第一節 X射線的產生及其物理作用
一、電磁輻射基礎
二、X射線譜
三、X射線與物質的相互作用
四、X射線的探測與防護
思考題
第二節 X射線衍射原理
一、晶體學基礎
二、布拉格方程
三、衍射矢量方程
四、厄瓦爾德圖解
五、勞埃方程
思考題
第三節 X射線衍射強度
一、一個電子對X射線的散射
二、一個原子對X射線的散射
三、單胞對X射線的散射
四、小晶體散射與衍射積分強度
五、多晶體衍射積分強度
六、衍射強度的影響因素
思考題
第四節 X射線衍射方法
一、照相法
二、衍射儀法
思考題
第五節 X射線衍射分析的套用
一、物相分析
二、點陣常數的精確測定
三、巨觀應力的測定
四、X射線衍射分析在其他方面的套用
思考題
第二章 電子顯微分析
第一節 電子顯微分析的發展
一、電子顯微技術的發展
二、電子顯微鏡的發展
第二節 電子光學基礎
一、光學顯微鏡的解析度與局限性
二、電子波長的特性
第三節 粒子（束）與材料的相互作用
一、電子束與材料的相互作用
二、電子與固體作用產生的信號
三、電子束與材料的其他相互作用
四、離子與固體作用產生的信號——濺射與二次離子
第四節 電磁透鏡
一、電磁透鏡的聚焦原理
二、電磁透鏡的結構
三、電磁透鏡與光學透鏡的比較
四、電磁透鏡的像差
五、電磁透鏡的分辨能力
第五節 透射電子顯微鏡
一、透射電子顯微鏡的工作原理與構造
二、透射電子顯微鏡樣品的製備
三、透射電子顯微鏡在材料研究中的套用
第六節 掃描電子顯微鏡
一、掃描電子顯微鏡的工作原理、特點及構造
二、掃描電子顯微鏡樣品的製備
三、掃描電子顯微鏡在材料研究中的套用
第七節 電子探針X射線顯微分析
一、電子探針儀的工作原理
二、電子探針儀的分析方法
三、X射線螢光能譜分析方法
思考題
第三章 熱分析
第一節 熱分析技術的分類
第二節 差熱分析
一、差熱分析原理
二、差熱分析儀
三、差熱分析曲線
四、差熱分析曲線的影響因素
第三節 差示掃描量熱法
一、差示掃描量熱分析的原理
二、差示掃描量熱曲線
三、差示掃描量熱法的影響因素
四、差示掃描量熱法的溫度和能量校正
……
第四章 紫外吸收光譜法
第五章 紅外吸收光譜法
第六章 雷射拉曼光譜法
第七章 核磁共振氫譜法
第八章 核磁共振碳譜法
第九章 質譜法
第十章 常用現代分析測試方法套用特點簡介
附錄1 分析方法符號及其縮略語
附錄2 常用物理常數
附錄3 元素的物理性質
附錄4 K系標識譜線的波長、吸收限和激發電壓
附錄5 元素的質量吸收係數（um）
附錄6 原子散射因子（f）
附錄7 原子散射因子校正值（△f）
附錄8 濾波片選用表
附錄9 各種點陣的結構因子
附錄10 德拜-瓦洛溫度因子e-Bsin2θIλ2=e-M
附錄11 從分子離子中丟失的游離基和中性碎片
附錄12 有機化合物質譜中一些常見碎片離子①（正電荷未標出）
參考文獻
文摘
第一章 X射線衍射分析
1895年11月8日，德國物理學家倫琴在研究真空管高壓放電現象時發現了X射線，開闢了物質分析測試方法的新篇章。1908－1911年，巴克拉（C.G.Barkla）發現物質被X射線照射時，會產生次級X射線。次級X射線除與初級X射線有關外，還與被照射物質組成的元素有關。巴克拉將與物質元素有關的射線的譜線稱為標識譜。同時，巴克拉還發現不同元素的X射線吸收譜具有不同的吸收限。1912年，勞厄（M.Von Laue）等提出X射線是電磁波的假設，並推測波長與晶面間距相近的X射線通過晶體時，必定會發生衍射現象。該假設被著名物理學家索末菲（A.J.W.Sommerfeld）的助手弗里德利希（W.Friedrich）用實驗證實，從此揭開了X射線的電磁波本質，證明了晶體中原子排列的規則性。自此，在探索X射線的性質、衍射理論和結構分析技術等方面都有了飛躍的發展，產生了一門重要的學科——X射線衍射學。
在弗里德利希用實驗證實勞厄假設的同時，英國物理學家布拉格（Bragg）父子從反射的觀點出發，提出了X射線“選擇反射”的觀點，認為X射線照射到晶體中一系列相互平行的原子面上，當相鄰兩晶面的反射線因疊加而加強時發生反射，疊加相消時不能發生反射，並導出了著名的布拉格方程。l913年布拉格根據這一原理，製作出了X射線分光計，並使用該裝置確定了巴克拉提出的某些標識譜的波長，首次利用X射線衍射方法測定了NaCl的晶體結構，從此開始了利用X射線進行晶體結構分析的歷史。l914年，莫塞萊（H.G.J.Moseley）由實驗發現，不同材料同名特徵譜線的波長與原子序數間存在定量對應關係，提出了著名的莫塞萊定律，誕生了材料物相快速無損檢測分析方法，形成了一門重要的學科——X射線光譜學。
當今，電子計算機控制的全自動X射線衍射儀及各類附屬檔案的出現，提高了X射線衍射分析的速率與精度，擴大了其研究領域，也使X射線衍射分析成為確定物質的晶體結構、進行物相的定性和定量分析、精確測定點陣常數、研究晶體取向等的最有效、最準確的方法。此外，還可通過線性分析研究多晶體中的缺陷，套用動力學理論研究近完整晶體中的缺陷，由漫散射強度研究非晶態物質的結構，利用小角度散射強度分布測定大分子的結構及微粒尺寸等。
X射線衍射分析反映出的信息是大量原子散射行為的統計結果，此結果與材料的巨觀性能有良好的對應關係。但使用該方法時要注意，X射線衍射分析不可能給出材料內實際存在的微觀成分和結構的不均勻性資料，也不能分析微區的形貌、化學成分以及元素離子的存在狀態。
1895年11月8日，德國物理學家倫琴在研究真空管高壓放電現象時發現了X射線，開闢了物質分析測試方法的新篇章。1908－1911年，巴克拉（C.G.Barkla）發現物質被X射線照射時，會產生次級X射線。次級X射線除與初級X射線有關外，還與被照射物質組成的元素有關。巴克拉將與物質元素有關的射線的譜線稱為標識譜。同時，巴克拉還發現不同元素的X射線吸收譜具有不同的吸收限。1912年，勞厄（M.Von Laue）等提出X射線是電磁波的假設，並推測波長與晶面間距相近的X射線通過晶體時，必定會發生衍射現象。該假設被著名物理學家索末菲（A.J.W.Sommerfeld）的助手弗里德利希（W.Friedrich）用實驗證實，從此揭開了X射線的電磁波本質，證明了晶體中原子排列的規則性。自此，在探索X射線的性質、衍射理論和結構分析技術等方面都有了飛躍的發展，產生了一門重要的學科——X射線衍射學。
在弗里德利希用實驗證實勞厄假設的同時，英國物理學家布拉格（Bragg）父子從反射的觀點出發，提出了X射線“選擇反射”的觀點，認為X射線照射到晶體中一系列相互平行的原子面上，當相鄰兩晶面的反射線因疊加而加強時發生反射，疊加相消時不能發生反射，並導出了著名的布拉格方程。l913年布拉格根據這一原理，製作出了X射線分光計，並使用該裝置確定了巴克拉提出的某些標識譜的波長，首次利用X射線衍射方法測定了NaCl的晶體結構，從此開始了利用X射線進行晶體結構分析的歷史。l914年，莫塞萊（H.G.J.Moseley）由實驗發現，不同材料同名特徵譜線的波長與原子序數間存在定量對應關係，提出了著名的莫塞萊定律，誕生了材料物相快速無損檢測分析方法，形成了一門重要的學科——X射線光譜學。
當今，電子計算機控制的全自動X射線衍射儀及各類附屬檔案的出現，提高了X射線衍射分析的速率與精度，擴大了其研究領域，也使X射線衍射分析成為確定物質的晶體結構、進行物相的定性和定量分析、精確測定點陣常數、研究晶體取向等的最有效、最準確的方法。此外，還可通過線性分析研究多晶體中的缺陷，套用動力學理論研究近完整晶體中的缺陷，由漫散射強度研究非晶態物質的結構，利用小角度散射強度分布測定大分子的結構及微粒尺寸等。
X射線衍射分析反映出的信息是大量原子散射行為的統計結果，此結果與材料的巨觀性能有良好的對應關係。但使用該方法時要注意，X射線衍射分析不可能給出材料內實際存在的微觀成分和結構的不均勻性資料，也不能分析微區的形貌、化學成分以及元素離子的存在狀態。
