XRF螢光光譜

XRF螢光光譜是一種用於化學、地球科學領域的分析儀器，於2015年7月22日啟用。

基本介紹

• 中文名：XRF螢光光譜
• 產地：荷蘭
• 學科領域：化學、地球科學
• 啟用日期：2015年7月22日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀

技術指標

重複性0.1% 能量解析度小於[email protected]/1,000cps 分析含量範圍1ppm-100% 元素分析範圍C（6） ~ Am(95)。

主要功能

可對從 Na 到 U 的元素（濃度從 ppm 到 100%）進行分析。