輝鉬礦主、次、痕量元素分析體系研究（X螢光光譜法）

《輝鉬礦主、次、痕量元素分析體系研究（X螢光光譜法）》是由岩礦測試技術研究所擔任第一完成單位，由馬光祖、羅立強擔任主要完成人的科研項目。

基本介紹

• 中文名：輝鉬礦主、次、痕量元素分析體系研究（X螢光光譜法）
• 成果登記號：19910595[04905]
• 第一完成單位：岩礦測試技術研究所
• 項目類別：科研項目

成果信息

成果登記號	19910595[04905]
項目名稱	輝鉬礦主、次、痕量元素分析體系研究（X螢光光譜法）
第一完成單位	岩礦測試技術研究所
主要完成人	馬光祖、羅立強
主題詞	X射線螢光;光譜學;輝鉬礦;硫化物礦物;主要元素分析

成果摘要

該項研究建立了輝鉬礦單礦物中主元素Mo、S，次元素Ti、Fe、Cu、Si和痕量元素簡便快速測定方法。研究提出用活性炭吸附Re進行分離富集，製成薄樣，然定，與國外採用的蒸餾法或萃取法相比，具有簡便、線性範圍寬和靈敏度對輝鉬礦中Mo、S、Fe、Si等元素的測定採用粉未壓片法，制薄樣與基本參校法XRF－11相結合，克效應和基體效應，有效地控制了硫化物變異性的影響。所建立的方法簡可靠，為單礦物的XRF分析提供了一種新方法。地質樣品中高含量硫（30－40％）的XRF測定在研究解決的問題，本項研究成果為高含量硫的XRFA提供了一條解決的途際套用中考驗，進一步提高精度。