X射線透射系統是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器,於2008年5月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線透射系統
- 產地:英國
- 學科領域:冶金工程技術
- 啟用日期:2008年5月1日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器
X射線透射系統是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器,於2008年5月1日啟用。
X射線透射系統是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器,於2008年5月1日啟用。技術指標 0.25mm最小聚焦光點,1600倍幾何放大倍率(6500倍系統放大倍率)。主要功能 半導體晶圓片、封裝器件、紅外器件、光電感測器件、SMT貼片器件、MEMS等; ...
X射線衍射系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2015年12月7日啟用。技術指標 X射線高壓發生器:最大輸出功率:≥4KW;最大管電壓:≥60KV;最大管電流≥60mA; X射線燈管:最大電壓:≥60KV;最大電流≥60mA 測角儀:...
X射線衍射成像系統 X射線衍射成像系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2003年12月11日啟用。技術指標 測試角度從4-100,解析度比一般衍射儀高一倍。主要功能 對粉末材料進行X射線衍射分析。
X射線衍射儀 基本構成 (1) 高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。(2) 樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體...
X射線衍射儀系統是一種用於化學、藥學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2012年12月15日啟用。技術指標 功率:3 kW 測角範圍(2θ):0.1 ~ 140°測角準確度Δ(2θc):0° 測角復現性(Sθd ):0....
閃爍計數器:是利用X射線激發某些固體物質,發射可見螢光並通過光電倍增管放大的計數器。閃爍計數管基本上由三部分組成:閃爍體、光電倍增管和前置放大器。四圓單晶衍射儀和多晶衍射儀都用這樣類似的系統來測量衍射線的強度。主要的X射線...
(4) 衍射圖的處理分析系統 現代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟體的計算機系統, 它們的特點是自動化和智慧型化。主要參數 三個物理量:從圖中可以看出,衍射譜上可以直接得到的有三個物理量,即衍射峰位置(2θ)、衍射峰...
X射線衍射裝置多用途測量系統是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2005年3月9日啟用。技術指標 1.具有大功率(18kW)2.高精度測角儀(2Q測量範圍:-60~163°)3.具有測角範圍寬、定位速度快等特點。主要功能 配備有...
帕納科悅影X射線衍射系統是一種用於物理學、核科學技術領域的分析儀器,於2019年11月4日啟用。技術指標 機櫃尺寸1400 mm X 1162 mm X 1947 mm;X射線發生器輸出功率:4 kW;工作電壓:60 kV; 工作電流:80 mA;X射線管材質:Cu...
他以更簡潔的方式,清楚地解釋了X射線晶體衍射的形成,並提出了著名的布拉格方程:,這一結果不僅證明了小布拉格的解釋的正確性,更重要的是證明了能夠用X射線來獲取晶體結構的信息。老布拉格則於1913年元月設計出第一台X射線分光計,並...
4.4 一個晶胞對x射線的散射 4.5 影響衍射強度的幾種因子 4.6 粉末晶體衍射強度計算 習題 第5章 X射線衍射方法 5.1 X射線源 5.2 測角儀 5.3 單色器 5.4 輻射探測器 5.5 測量系統 ...
X射線衍射方法是一種利用X射線衍射圖樣探索物質微觀結構和結構缺陷的研究方法。主要由X射線源、試樣架和測角儀、X射線探測記錄儀等系統構成。X射線通過晶體之後所形成的衍射圖樣與晶體中原子的空間排列有關。當X射線與晶格原子相互作用時...
多道分析器:總道數≥500道 從光管陽極到樣品的距離≤16mm,以充分利用光管的X射線發射強度,保證測量靈敏度。 位置面罩轉換器,適合做不同尺寸的樣品,電腦控制自動轉換。 充氦液體測量系統(包括不鏽鋼液體分析用樣品杯,液體樣品塑膠...
X射線衍射面探測儀系統是由國家財政部撥專款購買,國家藥物及代謝產物分析研究中心代管設備,機組負責人呂揚研究員具有10年以上相關儀器理論與實驗操作經歷。 X射線衍射面探測儀系統的X光源系統採用高真空轉靶光源,最大輸出功率為6kW.衍射...
X射線螢光光譜儀,根據分光原理,可以分為波長色散型和能量色散型兩種基本類型。波長色散型X射線螢光光譜儀由X光管激發源、試樣室、晶體分光器、探測器和計數系統幾個部分組成。而能量色散型X射線螢光光譜儀則用解析度較高的半導體探測器...
衍射儀系統是一種用於化學、地球科學、藥學、材料科學領域的分析儀器,於2004年12月31日啟用。技術指標 X射線高壓發生器:最大功率16 kW,最大電壓40kV,最大電流40mA;陶瓷X光管:Cu靶;掃描模式:θ-θ偶合聯動;掃描範圍:0.5-...
高分辨三維X射線顯微鏡系統 高分辨三維X射線顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2012年7月27日啟用。技術指標 最大電壓160KV最大功率10W移動範圍190mm-290mm。主要功能 各種材料的高分辨X射線無損三維成像。
高分辨透射X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2018年6月26日啟用。技術指標 彎晶鍺晶體單色器:提供Cu靶的純Kα1射線,無Kα2射線。 X射線光管最大功率: 2.2kW。 測角儀最小步長:0.001º;2θ角範圍:-90~+140...
X射線安檢儀是採用X射線掃描成像技術對行李進行安全檢測的電子設備,由X射線發生器、X射線探測器、圖像處理系統等部分組成,根據掃描成像判斷物品的安全性。X射線安檢儀屬於低危險射線裝置,輻射量遠遠小於醫學X光機。中文...
X射線衍射術,利用X射線原理測定分子立體結構的方法。X射線照射到分子整齊排列的晶體上時,會產生一系列的衍射點。從這些衍射點的空間排列規律及強度,可推算出分子在晶體中的排列情況和原子在分子中的立體排列情況。後者就是分子的立體結構...
單晶衍射儀系統是一種用於化學領域的分析儀器,於2006年12月1日啟用。技術指標 62mm 4kCCD晶片 3Kw固定靶X射線發生器 再現性±0.00010 液氮溫度。主要功能 準確測定分子單晶結構 空間排布和對稱性 是研究化學生物材料等學科微觀與巨觀...
CT斷層掃描X射線衍射系統是一種用於力學、物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2017年4月1日啟用。技術指標 最大光管電壓60KV,最大光管電流100mA;PIXcel全能矩陣探測器,計數矩陣256X256 pixcel,空間解析度55x55μm;高溫2300度;...
X射線衍射裝置 X射線衍射裝置是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2008年10月15日啟用。技術指標 18kW轉靶,Cu kα1射線。主要功能 晶格分析,相分析。
高通量X光蛋白質晶體衍射系統是一種用於生物學領域的分析儀器,於2010年9月21日啟用。技術指標 1. 微聚焦X射線發生器 Microfocus X- ray generator(一台) 1.1 高壓發生器 High-Voltage Power Supply;最大輸出功率:≥1200 W. 1...
攜帶型X射線衍射儀是一種用於土木建築工程領域的物理性能測試儀器,於2018年11月28日啟用。技術指標 環境工作溫度:-20℃~35℃; 環境濕度:0~75%; 供電系統:100~240V,50/60 Hz; 記憶體容量:40GB; 激發源:低功率X射線陶瓷管...
²卡口式連線光鑭來實現X射線光束的準直確保光束在水平方向的完美調整;索拉狹縫限制垂直方向上光的發散。儀器介紹 APD 2000多功能衍射儀Ital structures 公司數字式粉末衍射系統,該儀器 設計精巧、結構緊湊、數據精確、使用簡便、功能...
張秋寧、于吉順、湯中道擔任主要完成人的科研項目。成果信息 成果摘要 該項目取得的成果:諧波測角儀;3KW高頻高壓發生器;X射線衍射儀遠程控制和故障診斷系統;中藥衍射資料庫以其檢索系統;中文Windows操作系統;USB技術控制平台。
閃爍計數器, 線性範圍:0-2*106CPS,資料庫含11.7萬張標準圖譜。主要功能 樣品通常為小塊金屬或粉末,又稱粉末X射線衍射儀。利用多晶樣品對X射線的衍射效應,記錄和分析X射線衍射圖譜,可以對樣品進行物相定性和定量分析。