X射線衍射裝置多用途測量系統

X射線衍射裝置多用途測量系統是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2005年3月9日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線衍射裝置多用途測量系統
• 產地：日本
• 學科領域：物理學、化學、材料科學
• 啟用日期：2005年3月9日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

1.具有大功率(18kW)2.高精度測角儀(2Q測量範圍：-60～163°)3.具有測角範圍寬、定位速度快等特點。

主要功能

配備有最新版本的物質粉末衍射卡片資料庫，可進行各種材料的物相定性分析和定量分析。該系統可以對衍射譜線進行尋峰、平滑、扣背底等操作，可選擇多種函式的線型擬合，進行多峰分離、Ka1和Ka2分離、點陣參數的精確計算、晶粒尺寸與晶格應變的分離與確定等多種分析工作。