X射線吸收精細結構（X-ray absorption fine structure）是2016年全國科學技術名詞審定委員會公布的化學名詞。
X射線吸收精細結構（X-ray absorption fine structure）是2016年全國科學技術名詞審定委員會公布的化學名詞。定義對於非孤立原子的X射線吸收曲線，由於中心原子的光電子出射波與近鄰原子所產生的彈...
外延x射線吸收精細結構extended X-ray absorptionfine structure ，是x射線吸收限的精細結構，它分為近邊結構和遠邊結構。特性 寬約300---SOeV的位於低能一端的吸收限稱為近邊結構，這部分精細結構變化複雜，研究較少。寬約數百至100f1eV的高能一瑞的吸收限稱為遠邊結構。在遠邊結構基礎上發展起來的外延x射線...
擴展X射線吸收精細結構，是指元素的X射線吸收係數在吸收邊高能側30～1000電子伏之間的振盪；由吸收了X光的原子與鄰近配位原子相互作用產生，並將傅立葉交換用到擴展X射線吸收技術數據處理中，吸收邊高能側的多個疊加正弦波在空間按其殼層分開，獲得原子間距和配位數等結構信息。詞條介紹了擴展X射線吸收精細結構的基本原理...
擴展X射線吸收精細結構譜是物理學中研究射線的圖譜，可以用於物理學計算。概念 物質(除單原子氣體外)的 X射線吸收限的高能方向， 對應光電子能量Ek約在30～1000電子伏範圍內，X射線吸收係數的振盪結構稱為擴展X射線吸收精細結構譜。其典型例子。光電子能量為0處相當於K吸收限位置。在物質中，原子吸收X射線產生光...
美國EasyXAFS公司推出的台式X射線吸收精細結構譜儀，採用單色器設計，無需同步輻射光源，在常規實驗室內即可實現X射線吸收精細結構測量和分析。概念 台式X射線吸收精細結構譜儀採用X射線單色器設計，無需同步輻射光源（同步輻射裝置龐大、價格昂貴），在常規實驗室環境中即可實現 X 射線吸收精細結構測量和分析。提供 XAFS ...
另外，X光吸數光譜區段在接近目標原子之殼層電子激發處，目標原子之殼層電子吸收光子，會有一陡直的上升，常稱之為X光吸收近邊緣結構（X-ray Absorption Near-Edge Structures，XANES）或近邊X光吸收精細結構（Near-Edge X-ray Absorption Fine Structure，NEXAFS）。套用及樣品形態 由於X光穿透能力強，光譜各種目標原子...
X 射線近吸收邊精細結構 X 射線近吸收邊精細結構是2019年公布的物理學名詞。 公布時間 2019年全國科學技術名詞審定委員會審定公布的物理學名詞。出處 《物理學名詞》。
X射線分析(X-ray Analysis)是指以X射線為輻射源的分析方法統稱。主要包括X射線吸收法、X射線螢光法、X射線衍射法等。其中用於成分分析的X射線螢光法和用於結構分析的X射線衍射法套用較為廣泛。詞條詳細介紹了X射線以及X射線吸收法、X射線螢光法、X射線衍射法原理和套用。射線分析簡介 利用 X射線與物質間的互動作用...
吸收係數隨X光子能量增加而下降，這是由於X光子能量越高，其穿透性越強。仔細觀察下圖會發現，圖中有幾處突變，它們是吸收線，在吸收限的兩側吸收係數十分懸殊。吸收限是X光子分別使K層、 L層、M層一個電子電離發生共振吸收的能量。 突變即吸收限的出現，證明原子內部電子的殼層結構。X射線吸收在醫學上的套用 為...
在吸收限之上，隨著入射光子能量的增加，吸收曲線上出現振盪起伏變化的小峰。當能量大於吸收限1keV時，吸收係數單調下降。能量大於吸收限5～30eV，稱近吸收限區，這一區域與原子能級和四周原子有關。高於吸收限30～1000eV為擴展吸收精細結構區（見擴展X射線吸收精細結構譜）。這一區域反映著周圍原子的影響。數據處理 ...
如“吸收突躍”被定義為嘴續閾”或者“電離閾”，即指光電子被激發到連續態的能量位置，或者說原子和分子中的真空能級，金屬中的費米能級以及絕緣體中的導帶底位置。理論簡介 X譜學可分為兩個部分：X射線吸收近邊譜和擴展X射線吸收精細結構譜。X射線吸收近邊譜是在原子吸收邊附近50eV範圍內的精細結構，擴展X...
為此，本項目擬以貴金屬Au、Pt負載CoOOH二維超薄納米片為研究對象，利用同步輻射X射線吸收精細結構譜學（XAFS）技術研究貴金屬負載型光電催化劑金屬活性中心的局域結構、電子分布和化學環境信息，闡明貴金屬修飾對二維納米片光電催化劑微觀原子結構、電子排布和載流子分離與遷移的作用機理，根據第一性原理計算建立結構模型，...
光源類型 波盪器 能量範圍 5-20 keV 能量分辨 1.37×10-4 樣品處光通量 1.1x1011phs/s/μm2 K-B聚焦 樣品處光斑尺寸 1.8×1.6 μm2（FWHM）K-B聚焦 ~500nm。主要功能 微束X射線螢光分析(-XRF)：探測樣品中微區元素的組成,含量和分布（二維）。 微束近邊X射線吸收精細結構( -XANES)：特定元素...
因此，本課題針對一系列金屬有機鈣鈦礦，從晶體結構、電子性質等基礎角度出發，找出賦予該化合物高光伏活性的原因。我們將依託上海光源，利用常壓和高壓X射線衍射，以及常規和原位X射線吸收精細結構探究鈣鈦礦化合物的晶體結構與電子性質，重點研究不同鹵離子與金屬間的關係，以及金屬陽離子中的孤對電子的存在對結構的影響...
1 無機材料X射線結構表征 1.1 X射線基礎知識 1.2 晶體學基礎知識 1.3 晶體對X射線的衍射 1.4 X射線衍射的套用 1.5 X射線吸收精細結構光譜 2 無機材料形貌分析技術 2.1 掃描電子顯微鏡 2.2 透射電子顯微鏡 2.3 原子力顯微鏡 3 無機材料組成分析技術 3.1 X射線螢光光譜分析技術 3.2 X射線光電子能譜...
《高等結構分析》是復旦大學出版社2006年出版的圖書，作者是馬禮敦。內容簡介 本書是作為理科化學類研究生的學位基礎課“高等結構分析”的配套教材而編寫的。本書較深入地介紹了進行化學結構分析的幾類主要方法，包括核磁共振、順磁共振、紅外光譜、拉曼光譜、質譜、X射線吸收精細結構光譜、X射線單晶衍射、X射線多晶體...
XAFS（全稱是X-ray Absorption Fine Structure），即X射線吸收精細結構譜，是用於描繪局部結構最強有力的工具之一。在此技術中，我們將X射線能量調整至與所研究的元素中內電子層一致，再用於探測樣品，然後監測吸收的X射線數量與其能量的函式關係。如果採用足夠的精確度，光譜會展現出小的振盪，那是局部環境對目標元素...
XANES（X-ray absorption near edge structure）是一種X射線吸收近邊結構（XANES）又稱近邊X射線吸收精細結構（NEXAFS），是吸收光譜的一種射線結構。解釋 在X射線吸收譜中,閾值之上60eV以內的低能區的譜出現強的吸收特性,稱之為近邊吸收結構(XANES)。它是由於激發光電子經受周圍原子的多重散射造成的。它不僅反映...
迄今為止的物質結構探測技術一般都是以晶體—長程有序結構的衍射現象為基礎,但XAFS(X-Ray AbsorptionFine Structure,X射線吸收精細結構譜)是例外。基本介紹 EXAFS (Extended x-ray absorption fine structure)簡介 迄今為止的物質結構探測技術一般都是以晶體—長程有序結構的衍射現象為基礎,XAFS(X-Ray AbsorptionFine ...
《低溫原位XAFS實驗技術及其套用研究》是依託中國科學技術大學，由謝治擔任項目負責人的青年科學基金項目。中文摘要 低溫研究領域涉及到許多重大的科學問題，如研究高溫超導、自旋電子學材料在臨界溫度附近的電子和原子結構變化特徵是當今的研究熱點。同步輻射X射線吸收精細結構譜學(XAFS)具有對局域原子結構和電子結構敏感的...
基於同步輻射的X射線吸收精細結構(SR-XAFS)和X射線吸收近邊結構(SR-XANES)分析，以獲得青花瓷藍彩中鈷、鐵、錳等元素的價態和局域結構，結合SR-XRF、SR-XRD、Raman、色度和透射電鏡(TEM)等分析，力圖從物理層次解釋青花瓷藍彩的呈色機制。在此基礎上，進一步探討青花瓷藍彩的呈色機制與青花料來源的關係，為...
(1)建成6特斯拉超導扭擺磁鐵,並順利調試成功,使合肥同步輻射光源可開展部分波長短至0.1nm的硬X射線的研究工作。已建成X射線吸收精細結構光束線的實驗站。(2)相干諧波型儲存環自由電子雷射(SR2FEL)研究,自2008年7月首次獲得光學速調管(Optical Klystron,簡稱OK)自發輻射譜以來,2009年又進行了兩次實驗;調製因子一次...
《應力高效感生磁各向異性機理的同步輻射研究》是依託浙江師範大學，由吳鋒民擔任項目負責人的聯合基金項目。項目摘要 採用同步輻射XRD技術原位拍攝二維XRD圖像，運用二維XRD圖像Poulson分析方法研究應力退火過程中Fe基合金材料的微觀結構各向異性；採用同步輻射擴展X射線吸收精細結構(EXAFS)和X射線吸收近邊譜(XANES)並結合反...
《固體材料常用表征技術》共十三章，分別介紹X射線光電子能譜分析技術，X射線粉末衍射分析技術，俄歇電子能譜分析技術，X射線吸收精細結構分析技術，固體材料的質譜分析技術，電子顯微鏡分析技術，電子探針X射線顯微分析技術，核磁共振波譜分析技術，電子順磁共振譜分析技術，衍射散射式雷射粒度分析技術，氮氣吸附分析技術，正...
相對於化學提取法，同步輻射X射線吸收精細結構(XAFS)譜因能表征重金屬的分子形態而倍受青睞。，進而在方法學上還有待深入研究。鑒於此，本論文通過選取冶煉廠和礦區兩種典型重金屬污染土壤，以重金屬銅、鉛為例，利用化學提取法和同步輻射XAFS譜技術，對上述科學問題進行了較為系統的研究。副題名 外文題名 論文作者 楊...
另一方面，X射線吸收精細結構譜已被證明是一種強有力的結構測量手段，且可以有效探測凝聚態物質中包括氧空位在內的各種缺陷。本項目以多鐵性Eu0.5Ba0.5TiO3 (EBTO)薄膜為對象，通過核共振背散射譜和X射線吸收精細結構譜的測量，分析氧空位作用於晶格結構和電子結構的機理；通過電、磁性質測量，研究氧空位對多鐵...
《表面分析技術》是2020年中山大學出版社出版的圖書。內容簡介 本書介紹表面分析主要技術，包括俄歇電子能譜、X射線光電子能譜、二次離子質譜、低能粒子散射和盧瑟福背散射技術、表面分子振動光譜技術以及擴展X射線吸收精細結構和掃描隧道顯微技術、原子力顯微技術等。本書主要闡述上述表面分析技術的基本原理和實用樣品實例...
全書共15章,內容包括:材料分析檢測技術概述、X射線衍射分析、擴展X射線吸收精細結構譜分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微鏡和電子探針分析、掃描隧道顯微分析和原子力顯微分析、光電子能譜分析、俄歇電子能譜分析、原子光譜分析、分子光譜分析、拉曼光譜分析、核磁共振譜分析、電子自旋共振波譜分析、穆斯堡爾譜分析、熱...
《重金屬污染土壤原位鈍化修復的穩定性及其影響機理》是依託山東師範大學，由成傑民擔任項目負責人的面上項目。項目摘要 以代表性有機、無機、有機-無機複合鈍化材料為例，通過培養實驗研究其對重金屬鈍化的化學、生物學穩定性。通過模擬實驗，用Ｘ射線吸收精細結構光譜（XASF）等手段，研究重金屬在鈍化材料上和土壤中...
