基本介紹
- 中文名：台式X射線吸收精細結構譜儀
- 外文名：Laboratory-Based XAFS and XES Spectrometer
- 用途：材料局域結構研究
概念,特徵,技術參數,
概念
台式X射線吸收精細結構譜儀採用X射線單色器設計，無需同步輻射光源（同步輻射裝置龐大、價格昂貴），在常規實驗室環境中即可實現 X 射線吸收精細結構測量和分析。提供 XAFS 和 XES 兩種測量模式（可相互切換）。其以超高的靈敏度和光源質量，廣泛套用在催化，電池等研究領域，可實現對元素的測定，價態和結構分析等。
特徵
無需同步輻射光源
台式設計，可在實驗室內使用
可外接儀器設備，控制樣品條件
可實現多個樣品或多種條件測試
技術參數
X射線源：
XAFS：1.2-kW XRD(Mo/W)
XES：100W XRF 空冷管(Pd/W)
能量範圍：5-12keV；可達19keV
解析度：0.5-1.5eV
樣品塔：7位自動樣品輪
布拉格角：55-85 deg
