X射線三維顯微成像系統

X射線三維顯微成像系統是一種用於力學、工程與技術科學基礎學科、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2018年9月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線三維顯微成像系統
• 產地：中國
• 學科領域：力學、工程與技術科學基礎學科、環境科學技術及資源科學技術
• 啟用日期：2018年9月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器

技術指標

1um解析度；測量精度：比表面積重複精度≤±1.0%，最可幾孔徑重複偏差≤0.02nm，同種分析理論孔體積誤差±0.03ml/g，真密度 ≤±0.04%；外表面積≤±1.5%。

主要功能

計算機斷層掃描，滲流狀態下的CT觀察。