高分辨三維X射線顯微鏡系統

高分辨三維X射線顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年7月27日啟用。

基本介紹

• 中文名：高分辨三維X射線顯微鏡系統
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2012年7月27日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡

技術指標

最大電壓160KV最大功率10W移動範圍190mm－290mm。

主要功能

各種材料的高分辨X射線無損三維成像。