雷射功率或能量測量，包括連續雷射功率、脈衝雷射能量、脈衝雷射峰值功率、相對空間功率（能量）分布、相對頻譜功率（能量）分布、光束輪廓或線型（振幅和相位分布）等雷射輻射參數的測量。與此有關的學科稱為雷射輻射度學。雷射功率（能量）測量同一般光輻射測量不同之處，是它通常測量的不是均勻的光輻射場，而是非均勻的光輻射束（其典型情況是高斯光束）。雷射光束直徑一般為1～20毫米。
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包括連續雷射功率、脈衝雷射能量、脈衝雷射峰值功率、相對空間功率（能量）分布、相對頻譜功率（能量）分布、光束輪廓或線型（振幅和相位分布）等雷射輻射參數的測量。與此有關的學科稱為雷射輻射度學。雷射功率（能量）測量同一般光輻射測量不同之處，是它通常測量的不是均勻的光輻射場，而是非均勻的光輻射束（其典型情況是高斯光束）。雷射光束直徑一般為1～20毫米。因此，不僅需要測量連續雷射輻射,還需要測量各種脈衝雷射輻射（包括超短脈衝雷射輻射），其持續時間通常在10～10秒,有時短至10秒。雷射功率（能量）測量是一種強光輻射測量，連續雷射光束的功率可達10～10瓦,單個脈衝雷射的能量可達10～10焦，而脈衝雷射的峰值功率則可達10～10瓦。雷射功率（能量）可以利用雷射輻射與物質相互作用的各種效應來測量，其中尤以雷射輻射的熱效應和電效應得到廣泛的利用。光熱型測量儀器利用黑層或其他特殊材料來吸收雷射，然後用溫差熱電偶或熱釋電晶體等熱敏元件來探測材料吸收雷射後的溫升，適合於寬波段工作。光電型測量儀器利用光伏元件、光導元件或光發射元件為探測器。它具有快速測量的特點，可測量雷射功率（能量）的瞬時值以追蹤瞬態過程。雷射空間特性參量的測量，需要套用陣列探測元件和全息技術；強雷射和脈衝雷射的測量須防止雷射對接收面的損傷；弱雷射的測量則須禁止對雷射探測器件的干擾。雷射功率（能量）計量的主要標準裝置是高精度的絕對型雷射功率(能量)計，即可用電功率（電能）進行精確自校準的雷射功率（能量）計。各種不同等級的雷射功率（能量）測量儀器須在標準裝置上進行分度和檢定。
