離子拋光儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2014年09月20日啟用。
基本介紹
- 中文名:離子拋光儀
- 產地:美國
- 學科領域:地球科學
- 啟用日期:2014年09月20日
- 所屬類別:分析儀器 > 樣品前處理及製備儀器
離子拋光儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2014年09月20日啟用。
離子拋光儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2014年09月20日啟用。技術指標切割/研磨速度:大於300μm/Hr 切割角:0-90o。1主要功能用於電子探針、掃描電鏡測試樣品精密制樣。1...
截面離子拋光儀是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2012年6月11日啟用。技術指標 離子束加速電壓:2 ~ 6 kV; 束斑尺寸:500 μm (半峰值); 研磨速度:100 μm/1 hour (6 kV,Si); 樣品最大尺寸(mm):11×10×2 ; ...
離子束拋光儀 離子束拋光儀是一種用於電子與通信技術領域的工藝試驗儀器,於2016年1月15日啟用。技術指標 CP樣品最大尺寸:長*寬*厚:8*8*2CP削切範圍:長*寬*厚:1.5*1.5*0.5mm。主要功能 等離子拋光和切割。
離子束切割拋光儀是一種用於材料科學領域的工藝試驗儀器,於2018年5月23日啟用。技術指標 拋光角度: +10° 到 -10° ,每個離子槍可獨立調節 離子束能量: 100 V 到 8.0 kV 離子束流密度: 10 mA/cm2 峰值 拋光速度: 300 μ...
氬離子拋光儀是一種用於工程與技術科學基礎學科、材料科學、礦山工程技術、機械工程領域的分析儀器,於2016年10月26日啟用。技術指標 減薄角度:+10o到-10o;離子槍束能量:0.1KeV~8 KeV;離子槍:雙束聚焦離子槍,無耗件;樣品交換...
金鑒分析測試中心有9台電鏡,其中透射電鏡(TEM)2台、雙束聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)3台、掃描電鏡(SEM)7台,另外還配置了超音波掃描顯微鏡(SAT)、顯微紅外光譜儀(Micro FTIR)、X光檢查儀、氬離子拋光儀(CP)、全套的熱分析...