超高分辨透射式電子顯微鏡是一種用於材料科學、交通運輸工程領域的分析儀器,於2013年4月23日啟用。
基本介紹
- 中文名:超高分辨透射式電子顯微鏡
- 產地:日本
- 學科領域:材料科學、交通運輸工程
- 啟用日期:2013年4月23日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器
超高分辨透射式電子顯微鏡是一種用於材料科學、交通運輸工程領域的分析儀器,於2013年4月23日啟用。
超高分辨透射式電子顯微鏡是一種用於材料科學、交通運輸工程領域的分析儀器,於2013年4月23日啟用。技術指標1. 電子槍: LaB6(六硼化鑭); 2. 點解析度:0.23 nm; 3. 線解析度:0.14 nm; 4....
高解析度透射電子顯微鏡是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2012年3月1日啟用。技術指標 電子槍:LaB6(六硼化鑭);點解析度:0.19nm;線解析度:0.14nm;加速電壓:80~200kV;最高放大倍數:150萬倍;單傾樣品台和雙傾...
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小於0.2um的細微結構,這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構,就必須選擇波長更短的光源,以提高顯微鏡的解析度。1932年Ruska發明...
高分辨透射電子顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年11月10日啟用。技術指標 1.Point Resolution: 0.23nm 點解析度:0.23nm 2. Lattice Resolution: 0.102nm 晶格解析度:0.102nm 3. Lattice Resolution on STEM...
120kv高分辨透射電子顯微鏡 120kv高分辨透射電子顯微鏡是一種用於基礎醫學、臨床醫學領域的分析儀器,於2018年11月30日啟用。技術指標 解析度0.2nm。主要功能 細胞超微結構觀察。
電子顯微鏡按結構和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。透射式電子顯微鏡常用於觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細微物質結構;掃描式電子顯微鏡主要用於觀察固體表面的形貌,也能與X射線...
超高分辨場發射電子顯微鏡是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2017年11月17日啟用。技術指標 1.加速電壓:0.1kV - 30kV 2.解析度:0.8nm(15kV) 3.放大倍率:20x – 800,000x 4.配備日本Horiba公司能譜儀:X-MAX,檢測元素範圍...
超高分辨率掃描電子顯微鏡是專門為現今技術研究和發展設計的超高解析度儀器。產品介紹 冷場發射掃描電子顯微鏡m213451是專門為現今技術研究和發展設計的超高解析度儀器。獨特之處在於使用複合檢測器允許同時顯示二次電子和背散射電子成像。可以...
高分辨電鏡是用來觀察很薄試樣的相位襯度像的其有厚尺度分辨本領的透射電鏡。高分辨電鏡通常指用來觀察很薄試樣的相位襯度像(點陣像和結構像)的其有厚尺度分辨本領的透射電鏡.若將電子的加速電壓提高到1 Llf if 1k G",則觀察試樣...
03040701 /儀器儀表 /光學儀器 /電子光學及離子光學儀器 /透射式電子顯微鏡 指標信息 加速電壓:1000kV 放大倍數:150倍~30萬倍晶格分辨率:0.27nm 選區衍射相機長:2~6m 試樣可加熱溫度:1000℃ 附屬檔案信息 加熱台(室溫-1000℃),...
日立HT7800高反差型透射電子顯微鏡是一種用於藥學、材料科學領域的分析儀器,於2019年7月1日啟用。技術指標 線分辨率:0.2 nm;點解析度:0.36nm 加速電壓:20 至 120 kV (步進量 100 V/步) 放大倍率 (圖像放大無旋轉) 觀測模...
超高分辨掃描電子顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2017年12月22日啟用。技術指標 15 KV:解析度0.8nm(工作距離4nm),1 KV: 1.1 nm(減速模式),5軸馬達自動驅動。主要功能 表面形貌分析和測量,端面膜厚...
超高分辨熱場發射掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2007年07月21日啟用。技術指標 1. 解析度 高真空模式 1.0nm @ 15kv;1.8nm @ 1kv;0.8nm @ 30kv(stem探測器);低真空模式 1.5nm @ 10kv(helix探測...
高分辨率掃描電子顯微鏡是一種用於化學、地球科學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2013年1月8日啟用。技術指標 ① 加速電壓:0.1~30 kV ② 觀測倍率:20~1,200,000 ③ 二次電子分辨率:1.0nm(加速電壓15kV),1.3nm(...
高分辨掃描電子顯微鏡是一種用於化學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2018年11月07日啟用。技術指標 1.低加速電壓成像能力,1kv解析度可達1.3nm 2.不需噴鍍,可以直接觀測不導電樣品 3. 配置Lower、Upper和Top...
掃描電子顯微鏡的一個重要特點就是具有很高的分辨率,現已廣泛用於觀察納米材料。②進行材料斷口的分析。掃描電子顯微鏡的另一個重要特點是景深大,圖象富有立體感。掃描電子顯微鏡的焦深比透射電子顯微鏡大10倍,比光學顯微鏡大幾百倍。由於...
台式透射式電子顯微鏡是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2018年05月02日啟用。技術指標 SEM (BSE detector) resolving power 2 nm TEM resolving power 2.5 nm。主要功能 TEM, ED, STEM, SEM。