表面分析儀(surface analysis instrument)是2005年公布的航天科學技術名詞。
基本介紹
- 中文名:表面分析儀
- 外文名:surface analysis instrument
- 所屬學科:航天科學技術
- 公布時間:2005年
表面分析儀(surface analysis instrument)是2005年公布的航天科學技術名詞。
鋼結構疲勞斷口表面分析儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2017年6月22日啟用。技術指標 1、工作電源:110—240V, 50/60Hz, ≤1000W 2、溫度: 15℃—30℃;濕度:≤80%RH 3、加速電壓:0.3kV—30kV連續可調...
多功能微摩擦及表面分析儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2013年9月5日啟用。技術指標 載荷解析度:50nN 最大壓痕或劃痕載荷:>500mN 位移解析度:0.01nm 最大壓痕或劃痕深度:>500μm 儀器框架剛度:≥5x106N/m ...
表面形貌分析儀是一種用於信息科學與系統科學、物理學、工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的工藝試驗儀器,於2013年1月8日啟用。技術指標 Z方向範圍: 0-327μm,精度≤0.1 nm ;台階高度重現性≤0.6nm; 探針半徑2um,壓力0....
電子束表面分析儀是一種用於數學領域的物理性能測試儀器,於2016年12月1日啟用。技術指標 SE解析度 15kV:0.8nm (工作距離≥3mm)1kV:1.1nm(工作距離≥1.2mm,減速模式)。主要功能 冷場發射高分辨掃描電子顯微鏡配備新型場發射電子...
表面顆粒分析儀是一種用於信息科學與系統科學、物理學、工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的分析儀器,於2018年05月02日啟用。技術指標 雷射405nm波長,雷射斑點直徑≤15um;支持樣品尺寸2in、3in、4in、6in和8in;可裝載樣品的最...
表面三維形貌分析儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年1月1日啟用。技術指標 1、解析度:二維解析度要求達到0.12微米。垂直解析度0.01微米。 2、雷射光源:採用405nm短波長半導體雷射,壽命≥10000小時;雙光路共焦系統。 3、放大...
全自動四站比表面孔徑分析儀是一種用於材料科學領域的儀器,於2013年5月31日啟用。技術指標 測量範圍:比表面積=0.0005m2/g;孔徑範圍:3.5埃 - 4000埃 ;最小相對壓力(P/Po):4x10-5 ;極限真空度:1x10-9 ;壓力解析度:1...
全自動表面孔隙分析儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2013年6月20日啟用。技術指標 分析範圍: 比表面積: 0.01m2/g 無上限 孔徑分析範圍 :17Å to 5000 Å 孔體積最小檢測: 0.0001 cc/g detectable 。主要功能 測量介孔範圍...
固體表面ZETA電位分析儀是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2014年1月10日啟用。技術指標 流動電位測量範圍 :± 2000 mV ± (0.2% + 4 μV) 流動電流測量範圍 :± 2 mA ± (0.2% + 1 pA) 測量單元電阻:5 ...
表面等離子共振分析儀是一種用於化學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2015年11月30日啟用。技術指標 1.能夠實現實時性和無標記測量分子間相互作用 2.靈敏度滿足最小值:1μRIU。主要功能 用於實時、無標記檢測和監控感測器塗層表/...
固體表面電位分析儀 固體表面電位分析儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2019年6月19日啟用。技術指標 5-20MΩ,自動滴定。主要功能 固體表面電位的測定。
全自動快速比表面與孔隙度分析儀是一種用於化學工程領域的物理性能測試儀器,於2014年9月15日啟用。技術指標 有四個獨立的分析站,具有四個獨立的P0管(每個P0管配備獨立感測器),具備有四個獨立的杜瓦瓶和杜瓦電梯;比表面積:0.0001...
多站擴展式全自動快速比表面及孔隙度分析儀是一種用於化學領域的物理性能測試儀器,於2017年12月20日啟用。技術指標 (1)比表面積: 0.0001m2/g ~ 無上限 (2)孔徑分析範圍 :3.5Å ~ 5000 Å (3)孔體積最小檢測: 0....
比表面與孔隙度分析儀是一種用於藥學、材料科學領域的科學儀器,於2018年6月21日啟用。技術指標 全自動運行,能進行真空體積測定的氣體物理吸附的系統,該系統產生所需要的吸附和脫附數據,用於確定並給出所有的表面積和技術指標部分所列...
全自動比表面及孔隙度分析儀是一種用於化學、生物學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的物理性能測試儀器,於2014年11月18日啟用。技術指標 1.比表面積:0.0001m2/g~3000m2/g2.孔徑範圍:3.5Å~5000Å3.最小孔體積:...
全自動比表面和孔徑分布分析儀是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2014年10月16日啟用。技術指標 測量範圍:孔隙度:3.5-5000A;比表面積>0.0005m2/g -多種配置選擇可擴展測量能力,即超低比表面,微孔和化學吸附測量。
膜材料表面活性位點顯微分析儀是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2018年11月15日啟用。技術指標 變倍掃描,範圍1x-1000x;四路半導體雷射器功率不低於50mw,滿足不同的套用需求。405 nm雷射器主要用於材料樣品表面的高分辨和...
比表面及孔隙度分析儀是一種用於化學領域的物理性能測試儀器,於2016年10月14日啟用。技術指標 1.比表面積:測量範圍:0.0005m2/g至無限,通常使用BET法在液氮溫度-196℃。 2.孔徑分布分析:測量範圍:3.5埃至5000埃;在-196℃...
瀝青集料表面吸附性能分析儀是一種用於交通運輸工程領域的分析儀器,於2015年03月25日啟用。技術指標 掃描範圍最大可達90μm,解析度約為0.1nm(石墨原子),可測量的樣品最大尺寸為4cm L×4cm W×10mm T。主要功能 用於探測樣品...
比表面孔隙度分析儀是一種用於力學、地球科學、工程與技術科學基礎學科領域的物理性能測試儀器,於2009年12月12日啟用。技術指標 表面積範圍:0.05-5000 m2/g,靈敏度: 25 x 10-10 摩爾吸附或脫附的氣體。主要功能 全面測定具有...
全自動比表面和孔徑分析儀是一種用於化學領域的物理性能測試儀器,於2018年9月6日啟用。技術指標 測量原理:容量法氣體吸附專利 吸附氣:N2,Ar,Kr,NH3,CO2,H2,CO,O2,甲烷,丁烷和其他非腐蝕性氣體;H2O,甲醇,乙醇,***及...
比表面及空隙分析儀是一種用於化學、地球科學、工程與技術科學基礎學科、礦山工程技術領域的物理性能測試儀器,於2005年12月10日啟用。技術指標 最小可測比表面0.2m2/g,如加裝分子泵可測0.005m2/g ,可測孔體積0.0001cm3/g 可測...