膜材料表面活性位點顯微分析儀是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2018年11月15日啟用。
基本介紹
- 中文名：膜材料表面活性位點顯微分析儀
- 產地：德國
- 學科領域：化學、材料科學
- 啟用日期：2018年11月15日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
變倍掃描，範圍1x-1000x；四路半導體雷射器功率不低於50mw，滿足不同的套用需求。405 nm雷射器主要用於材料樣品表面的高分辨和三維形貌測試，並滿足ISO4287和ISO25178的粗糙度測量國際標準其他三路用於螢光激發。
主要功能
主要用於材料樣品表面的高分辨和三維形貌測試，自動測量、景深合成、圖像拼接；具備螢光材料、微生物螢光激發觀察分析。
