螢光壽命顯微鏡系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2013年4月22日啟用。
基本介紹
- 中文名:螢光壽命顯微鏡系統
- 產地:日本
- 學科領域:物理學
- 啟用日期:2013年4月22日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡
螢光壽命顯微鏡系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2013年4月22日啟用。
螢光壽命顯微鏡系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2013年4月22日啟用。技術指標空間解析度40nm,空間掃描範圍100平方微米,激發光波長範圍280-900nm,可檢測螢光範圍300-1200nm,快速掃描功能,T...
對於光學顯微鏡系統,光學傳遞函式的三維結構是圓環結構,在零頻位置存在凹陷。凹陷帶來的後果就是CCD 上記錄的信息不僅包含物鏡焦平面上的樣品信息,同時包含焦平面外的樣品信息。由於受到焦平面外的信息的干擾,常規螢光顯微鏡無法獲得層析...
螢光壽命分析系統 螢光壽命分析系統是一種用於數學領域的分析儀器,於2014年1月1日啟用。技術指標 375nm、473nm。主要功能 與雷射共聚焦顯微鏡相連,可用於細胞原位螢光壽命成像。
螢光壽命測試系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2017年5月8日啟用。技術指標 螢光壽命範圍30ps-50us;磷光壽命範圍1us-10s;光譜範圍:230-850nm;最小時間解析度305fs;通道數512-8192;計時抖動25ps。主要功能 材料分析。
利用螢光顯微鏡與帶有電荷耦合器件攝像系統的,或帶有阿達瑪變換多通道成像系統的螢光光譜儀耦合而成的分析系統,進行圖像採集、顯示、處理和分析,以獲取顯微螢光圖像、微區螢光強度及螢光壽命等信息的測定方法。出處 《化學名詞》第二版 ...
STED技術還可用於對螢光樣品進行螢光壽命測量(FLIM)及螢光相關譜測量(FCS),從而使得STED系統成為了一種多功能超分辨成像系統,在生物醫學等領域中的套用也變得更加廣泛。除了在成像領域的套用之外,STED超分辨的思想在微細結構的光刻,超高...
徠卡顯微系統有多光子顯微鏡DIVE、螢光壽命顯微成像FLIM以及超高分辨成像STED等成像新技術和新設備的功能和套用及系統成像解決方案。解決方案 生命科學解決方案 前沿光學成像、圖像分析和數據管理技術、超高解析度顯微技術,用於共聚焦和寬場成像...
STSR-MMM系統原理如圖1所示。基於TCSPC的多焦點多光子顯微技術 時間相關單光子計數(time-correlated single photon counting,TCSPC)技術可以實現16個通道的光譜分辨螢光壽命成像,一般認為不能用於多焦點測量,但French小組已將TCSPC技術與多...
連續波超高解析度共聚焦顯微鏡系統是一種用於生物學領域的分析儀器,於2016年3月21日啟用。技術指標 1. STED倒置顯微鏡系統平台,基於Leica DMI8顯微鏡平台設計。2. STED門控檢測裝置。在0-12ns做螢光壽命門控檢測。3. 白雷射雷射器。...
雷射共聚焦系統是一種用於生物學領域的分析儀器,於2011年12月30日啟用。技術指標 雷射光源 掃描檢測 顯微鏡 計算機 軟體。主要功能 1. 螢光定位、定量測量。2. 螢光斷層掃描、重疊及三維重建。3. 螢光光漂白恢復(FRAP)和螢光能量共振...
採用螢光探針,可實現細胞團和單細胞的測量,能夠從空間上分析細胞的離子瞬態過程,研究細胞的動態生理變化。主要功能 可實現邊緣探測、膜片鉗、FRET、磷光、螢光穩態、螢光壽命等的測量。 該系統通用性強可適用於倒置顯微鏡和正置顯微鏡。
採用螢光探針,可實現細胞團和單細胞的測量,能夠從空間上分析細胞的離子瞬態過程,研究細胞的動態生理變化。 2.通過擴展和升級,可實現邊緣探測、膜片鉗、FRET、磷光、螢光穩態、螢光壽命等的測量。 3.該系統通用性強可適用於倒置顯微鏡和...
第二章 質譜在系統生物學中的套用簡介 Warwick B.Dunn 1.簡介 2.什麼是質譜?3.質譜儀的基本組成 4.質譜儀的優點 5.質譜在系統生物學中的套用 致謝 參考文獻 第三章 基於細胞陣列和螢光壽命成像顯微鏡的原位高通量蛋白質翻譯後修飾...
並可配合共焦掃描顯微系統完成靈活多變的多光子轉化材料和器件以及生物組織多光子和壽命顯微成像;可對光子學功能材料等進行更全面的顯微-巨觀光電性能評價。具體如: 1. 可實現對微納光子器件的穩瞬態光電特性測試。 2. 搭配共焦顯微鏡...
710螢光顯微鏡251 711掃描近場光學顯微鏡263 712共聚焦顯微鏡269 713螢光共振能量轉移(FRET)成像282 714螢光壽命成像顯微術(FLIM)289 第八章光學相干層析成像術(OCT)原理291 81介紹291 82OCT系統中的共焦門和...
在三維結構納米成像中,重點介紹了電子顯微鏡和X射線顯微鏡,對三維結構納米成像進行了較為系統的分析。在形貌納米成像方面,論及掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡、近場光學顯微鏡和掃描電子顯微鏡等。在螢光納米成像中,重點討論了突破衍射極限的...