螢光壽命測試系統

螢光壽命測試系統是一種用於材料科學領域的科學儀器，於2017年5月8日啟用。

基本介紹

• 中文名：螢光壽命測試系統
• 產地：英國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2017年5月8日

技術指標

螢光壽命範圍30ps-50us；磷光壽命範圍1us-10s;光譜範圍：230-850nm;最小時間解析度305fs;通道數512-8192;計時抖動25ps。

主要功能

材料分析。